Device for measurement of thermal emissivity at cryogenics temperatures

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0100016
Název	Device for measurement of thermal emissivity at cryogenics temperatures
Překlad názvu	Zařízení pro měření tepelné emisivity při nízkých teplotách
Tvůrce(i)	Králík, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Hanzelka, Pavel (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Musilová, Věra (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Srnka, Aleš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 8th Cryogenics 2004 IIR international conference. s. 23-29. - Praha : ICARIS, 2004
Konference	Cryogenics 2004 /8./ IIR International Conference, Praha, 27.04.2004-30.04.2004
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	IBS2065109 GA AV ČR - Akademie věd
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	cryogenic system * temperature dependency * material surfaces
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0007523

Počet záznamů: 1