0100016 - UPT-D 20040016 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Králík, Tomáš - Hanzelka, Pavel - Musilová, Věra - Srnka, Aleš
Device for measurement of thermal emissivity at cryogenics temperatures.
[Zařízení pro měření tepelné emisivity při nízkých teplotách.]
Proceedings of the 8th Cryogenics 2004 IIR international conference. Praha: ICARIS, 2004, s. 23-29. ISBN 2-913149-33-2. ISSN 0151-1637.
[Cryogenics 2004 /8./ IIR International Conference. Praha (CZ), 27.04.2004-30.04.2004]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065109
Klíčová slova: cryogenic system * temperature dependency * material surfaces
Kód oboru RIV: BJ - Termodynamika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007523