0024665 - ÚFM 2006 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Ohlídal, I. - Buršík, Jiří
Scanning thermal microscopy - theory and applications.
[Rastrovací termální mikroskopie: teorie a aplikace.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 50, 11-12 (2005), s. 327-329. ISSN 0447-6441
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: scanning thermal microscopy * scanning probe microscopy
Kód oboru RIV: BJ - Termodynamika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0115170