0024665 - ÚFM 2006 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Ohlídal, I. - Buršík, Jiří
Scanning thermal microscopy - theory and applications.
[Rastrovací termální mikroskopie: teorie a aplikace.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 50, 11-12 (2005), s. 327-329. ISSN 0447-6441
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: scanning thermal microscopy * scanning probe microscopy
Kód oboru RIV: BJ - Termodynamika

The theoretical background and some results of the scanning thermal microscopy analysis of artifical structures are presented. It is shown that at the absence surface roughness the SThM can be used to obtain reliable material contrast images both in temperature and conductivity contrast mode.

Je popsáno teroretické pozadí rastrovací termální mikroskopie a výsledky dosažené při studiu uměle vytvořených struktur,jako jsou například elektrody slunečních článků,čidla pro analýzu plynů nebo povrchy elektronických součástek. Z výsledků je patrné,že při měření hladkých povrchů může metoda SThM slouřit pro získávání hodnověrných obrazů materiálového kontrastu.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0115170