Laserový zdroj pro velmi přesnou interferometrii

0537035 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Holá, Miroslava - Řeřucha, Šimon - Hrabina, Jan - Jelínek, Michal - Pham, Minh Tuan - Čížek, Martin - Úlehla, L. - Mikel, Břetislav - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Laserový zdroj pro velmi přesnou interferometrii.
[Laser source for ultra precise interferometry.]
Interní kód: APL-2020-13 ; 2020
Technické parametry: Střední vlnová délka 633,5nm, relativní stabilita optické frekvence 0,11 ppb / 1 hodina, absolutní stabilita optické frekvence < 1,4 MHz, FWHM 1.5 MHz, užitečný optický výkon 6mW, rozsah přeladění optické frekvence 0,5THz rychlostí 200 GHz/s, rozsah rychlého přeladění optické frekvence (T-bias) 300 MHz, šířka pásma vstupu ladění optické frekvence T-bias 100kHz DC / 3 MHz AC, metrologická návaznost na primární standard: ANO.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Šimon Řeřucha, Ph.D., res@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: frequency standard * laser interferometry * diode laser * iodine reference
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)

Kompaktní, ultra-stabilní a široce přeladitelný zdroj s vlnovou délkou blízkou 633 nm poskytuje 6mW optického výkonu s výjimečnou relativní (1.1 * 10^-10) i absolutní stabilitou (> 2 MHz) s metrologickou návazností na primární standard. Spektrální šířka emisní čáry přibližně 1,5MHz nabízí koherenční délku cca 100 m, což činí laser velmi vhodný pro široké použití v pokročilých metodách metrologii délky.

A compact narrow-linewidth, ultra-stable and widely tunable laser source operating close to the wavelength of 633nm delivers 6 mW optical intensity with exceptional sub-ppb relative stability and MHz-level absolute stability of the optical frequency (both traceable to primary standard). The linewidth of 1.5MHz dealss the coherence length of 100m approx., which makes the laser suitable for advanced methods of the dimensional metrology.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314792