Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou

0463503 - FZÚ 2017 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Hájková, Zdeňka - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Píč, Vlastimil - Křížek, Filip - Šulc, D. - Nováček, Z. - Wertheimer, P.
Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou.
[Introduce scanning probe microscopy into education.]
Chemické listy. Roč. 110, č. 2 (2016), s. 153-159. ISSN 0009-2770. E-ISSN 1213-7103
Grant CEP: GA ČR GA14-15357S; GA MŠMT(CZ) LM2011026
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: scanning probe microscopy * scanning tunnelling microscopy * atomic force microscopy * models * demonstrations * analogies * educational materials
Kód oboru RIV: AM - Pedagogika a školství
Impakt faktor: 0.387, rok: 2016
http://chemicke-listy.cz/docs/full/2016_02_153-159.pdf

Mikroskopie skenující sondou (SPM) je jednou z nejdůležitějších mikroskopických technik používaných v současnosti k zobrazování a charakterizaci povrchů vzorků na úrovni nanometrů i menší, (někdy až s atomárním rozlišením). Při implementaci SPM do výuky přírodovědných předmětů na střední škole je možné využít různé výukové metody a prostředky. V tomto příspěvku jsou představeny zejména jednoduché modely a analogie, které mohou ilustrovat základní principy SPM.

One of the most important techniques used for imaging and measuring surfaces at the nanoscale (sometimes even with atomic resolution) is the scanning probe microscopy (SPM). In order to introduce SPM into secondary science education, various teaching approaches might be followed. In this contribution, special attention is paid to simple models and analogies of SPM to illustrate the basic SPM principles.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263271