SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev

0426282 - ÚPT 2014 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Urbánek, Michal
SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev.
[SMV-2012-19: Topography of thin polymer films.]
Brno: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, 2012. 4 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: polymers * atomic force microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Měření topografie a vyhodnocení vlastností tenkých polymerních vrstev, které byly naneseny na křemíkové a křemenné substráty. Měření byla provedena mikroskopem atomárních sil v kontaktním režimu. Ze získáných dat byla vyhodnocena drsnost jednotlivých vzorků. Současně byla také provedena analýza jednotlivých fází polymerů ve vrstvách s pomocí měření laterálních sil.

Topography measurement and properties' evaluation of thin polymer films deposited on silicon and quartz glass substrates. Measurements were carried out by atomic force microscopy (AFM)in contact mode. The roughness of polymer films were determined. Simultaneously analysis of individual phases in polymers was done by measurement of lateral forces.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0232039