0312426 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Hajati, S. - Romanyuk, Olexandr - Zemek, Josef - Tougaard, S.
Validity of Yubero-Tougaard theory to quantitatively determine the dielectric properties of surface nanofilms.
[Platnost teorie Yubera a Tougaarda pro kvantitativní stanovení dielektrických vlastností povrchových vrstev nanometrických rozměrů.]
Physical Review. B. Roč. 77, č. 15 (2008), 155403/1-155403/11. ISSN 1098-0121. E-ISSN 2469-9969
Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: REELS * Yubero-Tougaard theory * dielectric function * nanofilms
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.322, rok: 2008 ; AIS: 1.271, rok: 2008
DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.77.155403

Reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) at low energies is very surface sensitive and can be used to characterize the electronic properties of ultrathin films and surface nanostructures. To extract reliable quantitative information from a REELS experiment it is essential to have accurate theoretical algorithms. In this paper, we have studied the validity of a theoretical method proposed by Yubero and Tougaard to determine the dielectric function.

Spektroskopie ztrát energie elektronů (REELS) je pro nízké energie velmi povrchově citlivá a může být použita k charakterizaci elektronových vlastností ultratenkých vrstev a nanostruktur na površích. Abychom získali spolehlivé kvantitativní informace z naměřených REELS spekter, musíme použít přesný teoretický algoritmus. V tomto článku ověřujeme platnost teoretické metody navržené Yuberem a Tougaardem k určení dielektrické funkce.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0163495