Počet záznamů: 1  

Validity of Yubero-Tougaard theory to quantitatively determine the dielectric properties of surface nanofilms

  1. 1.
    0312426 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hajati, S. - Romanyuk, Olexandr - Zemek, Josef - Tougaard, S.
    Validity of Yubero-Tougaard theory to quantitatively determine the dielectric properties of surface nanofilms.
    [Platnost teorie Yubera a Tougaarda pro kvantitativní stanovení dielektrických vlastností povrchových vrstev nanometrických rozměrů.]
    Physical Review. B. Roč. 77, č. 15 (2008), 155403/1-155403/11. ISSN 1098-0121
    Grant CEP: GA ČR GA202/06/0459
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: REELS * Yubero-Tougaard theory * dielectric function * nanofilms
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 3.322, rok: 2008

    Reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) at low energies is very surface sensitive and can be used to characterize the electronic properties of ultrathin films and surface nanostructures. To extract reliable quantitative information from a REELS experiment it is essential to have accurate theoretical algorithms. In this paper, we have studied the validity of a theoretical method proposed by Yubero and Tougaard to determine the dielectric function.

    Spektroskopie ztrát energie elektronů (REELS) je pro nízké energie velmi povrchově citlivá a může být použita k charakterizaci elektronových vlastností ultratenkých vrstev a nanostruktur na površích. Abychom získali spolehlivé kvantitativní informace z naměřených REELS spekter, musíme použít přesný teoretický algoritmus. V tomto článku ověřujeme platnost teoretické metody navržené Yuberem a Tougaardem k určení dielektrické funkce.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0163495

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.