0308215 - ÚPT 2008 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk
Beamline for Photoemission Spectromicroscopy and Spin Polarized Microscopy with Slow Electrons at CESLAB.
[Beamline pro fotoemisní spektromikroskopii a spinově polarizovanou mikroskopii s pomalými elektrony v CESLAB.]
Materials structure. Roč. 15, č. 1 (2008), s. 111-112. ISSN 1210-8529
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: CESLAB * beamline * LEEM/PEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Text characterizes the basic arrangement, parameters and instrumentation of the end stations for the beamline for energy filtered photoemission electron microscopy, on one subline combined with the low energy electron microscope (LEEM) equipped with a spin polarized electron gun, planned for the CESLAB. The other subline will be fit with a classical electrostatic PEEM with an imaging energy filter.

Text charakterizuje základní uspořádání, parametry a přístrojové vybavení beamline pro energiově filtrovanou fotoemisní elektronovou mikroskopii kombinovanou na jedné dráze paprsku s mikroskopií pomalými elektrony (LEEM) vybavenou zdrojem spinově polarizovaných elektronů, plánovanou pro CESLAB. Druhá dráha paprsku bude osazena klasickým elektrostatickým PEEM se zobrazovacím energiovým filtrem.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160767