0308215 - ÚPT 2008 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk
Beamline for Photoemission Spectromicroscopy and Spin Polarized Microscopy with Slow Electrons at CESLAB.
[Beamline pro fotoemisní spektromikroskopii a spinově polarizovanou mikroskopii s pomalými elektrony v CESLAB.]
Materials structure. Roč. 15, č. 1 (2008), s. 111-112. ISSN 1210-8529
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: CESLAB * beamline * LEEM/PEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160767