0134659 - FZU-D 20030560 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Jiříček, Petr - Zemek, Josef - Lejček, Pavel - Lesiak, B. - Jablonski, A. - Čerňanský, Marian
Stability of the inelastic mean free paths determined by elastic peak electron spectroscopy in nickel and silicon.
Journal of Vacuum Science & Technology A : Vacuum, Surfaces and Films. Roč. 20, č. 2 (2002), s. 447-455. ISSN 0734-2101. E-ISSN 1520-8559
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0237
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: Monte Carlo simulation * electron-solid interaction * inelastic mean free path(IMFP) * elastic peak electron spectroscopy(EPES)
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.301, rok: 2002

The scatter between the measured IMFPs obtained in the present work and predictive formulas IMFP values is determined.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032553