Počet záznamů: 1  

X-ray emission from thin films on a substrate - Calculation and experiments

  1. 1.
    0134314 - FZU-D 20030210 RIV AT eng J - Článek v odborném periodiku
    Starý, V. - Jurek, Karel
    X-ray emission from thin films on a substrate - Calculation and experiments.
    Microchimica Acta. Roč. 139, - (2002), s. 179-184. ISSN 0026-3672. E-ISSN 1436-5073
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914; CEZ:MSM 210000021
    Klíčová slova: Monte Carlo simulation * electron microanalysis * X-ray emission * thin films
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.050, rok: 2001

    In Monte Carlo code the single crystal scattering model is employed for simulation of X-ray emission from thin films of Au on the Si substrate. The electron beam energy was in the range 10-30keV. These data were compared with experimental values of k-ratios calculated from X-ray intensities of Au M and Au L characteristic lines.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032222

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.