Počet záznamů: 1  

Measurement of thin films by computr processed video-signal

  1. 1.
    0133268 - FZU-D 20010061 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
    Keprt, Jiří - Bartoněk, L.
    Measurement of thin films by computr processed video-signal.
    Acta Universitatis Palackianae Olomucensis Facultas Rerum Naturalium. Roč. 39, - (2000), s. 139-159. ISSN 0231-9365
    Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery

    The interferometrical measuring method of the optical thickness of thin films is presented in this report. The measurement of optical thickness of layers is realized by Michelson's interferometer and CCD camera.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031249

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.