0132729 - FZU-D 20000285 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
Zemek, Josef
Electron spectroscopy of solid surfaces.
Acta Physica Slovaca. Roč. 50, č. 4 (2000), s. 577-589. ISSN 0323-0465. E-ISSN 1336-040X.
[Workshop on Solid State Surfaces II. Bratislava, 20.06.2000-22.06.2000]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.465, rok: 2000

The present review will address briefly typical procedures of quantitative analysis commonly used in AES and XPS, electron elastic scattering effects, surface sensitivity of the EPES for determination of the inelastic mean free path values and their energy dependences.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030735