0132722 - FZU-D 20000278 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Lesiak, B. - Jablonski, A. - Zemek, Josef - Jiříček, Petr - Lejček, Pavel - Čerňanský, Marian
Inelastic mean free path measurements of electrons near nickel surfaces.
Surface and Interface Analysis. Roč. 30, - (2000), s. 217-221. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.215, rok: 2000

In this paper are studied statistical and systematic unsertainties of the measured backscattered intensities from Ni foils prepared by rolling and cutting of the bulk material and of annealing.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030728