Počet záznamů: 1  

Correlation of photoinductivity and structure of microcrystalline silicon thin films with submicron resolution

  1. 1.
    0132392 - FZU-D 990340 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Rezek, Bohuslav - Nebel, C. E. - Stutzmann, M.
    Correlation of photoinductivity and structure of microcrystalline silicon thin films with submicron resolution.
    Applied Physics Letters. Roč. 75, č. 12 (1999), s. 1742-1744. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA ČR GA202/98/0669; GA AV ČR IAA1010809
    Grant ostatní: BMBF(DE) BEC0329814
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 4.184, rok: 1999
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030419

     
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.