Počet záznamů: 1
Correlation of photoinductivity and structure of microcrystalline silicon thin films with submicron resolution
- 1.0132392 - FZU-D 990340 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Rezek, Bohuslav - Nebel, C. E. - Stutzmann, M.
Correlation of photoinductivity and structure of microcrystalline silicon thin films with submicron resolution.
Applied Physics Letters. Roč. 75, č. 12 (1999), s. 1742-1744. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA ČR GA202/98/0669; GA AV ČR IAA1010809
Grant ostatní: BMBF(DE) BEC0329814
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 4.184, rok: 1999
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030419
Počet záznamů: 1