0105958 - URE-Y 20040113 RIV CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Vacková, S. - Gorodynskyy, Vladyslav - Žďánský, Karel - Vacek, K. - Kozak, Halina
Lifetime on carriers and seebeck coefficient in semiconductors.
[Doba života nosičů náboje a Seebeckův koeficient v polovodičích.]
Proceedings of WORKSHOP 2004. Vol. A. Prague: Czech Technical University, 2004, s. 122-123. CTU Reports, Vol.8, Sp.Issue. ISBN 80-01-02945-X.
[Workshop 2004. Praha (CZ), 22.03.2004-26.03.2004]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IBS2067354; GA AV ČR(CZ) KSK1010104
Klíčová slova: photoconductivity * carrier lifetime * Seebeck effect
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace

The lifetime of carriers represents an important parameter of radiation detectors which is characteristic for them. Usually the current experimental technique for their measurement makes use of different experimental methods, as photoconductivity. Very often the product of mobility and lifetime is introduced as a criterion for the semiconductor suitability of radiation detection.

Doba života nosičů náboje je důležitým parametrem radiačních detektorů, která je pro ně charakteristická. Mezi různé metodiky měření této veličiny patří obyčejně používaná metodika měření fotovodivosti. Součin pohyblivosti a doby života je známý jako kritérium vhodnosti polovodičů pro detektory záření.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0013144