0101482 - UMCH-V 20043202 RIV SK cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Špírková, Milena - Matějíček, P. - Slepička, P.
Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM).
[Characterization of nanostructures and nanoparticles using atomic force microscopy.]
Zborník. Bratislava: Ústav polymérov, 2004, s. 24-26.
[Slovensko-české dni o polyméroch /3./. Smolenice (SK), 26.09.2004-29.09.2004]
Grant CEP: GA AV ČR KSK4050111; GA ČR GA102/03/0449
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4050913
Klíčová slova: atomic force microscopy * surface morphology * nanoparticles
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

V příspěvku jsou prezentovány výsledky dosažené pomocí mikroskopie atomových sil při 1) studiu morfologie povrchů nanokompozitních materiálů a při 2) charakterizaci nanočástic deponovaných na substrátech.

Results on 1) surface morphology of nanocomposites and 2) characterization of surface-deposited nanoparticles, obtained by atomic force microscopy, are described.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0008908