Počet záznamů: 1

Application of microscopy methods for characterization of silicon nanostructures

SYSNO ASEP	0488809
Druh ASEP	A - Abstrakt
Zařazení RIV	O - Ostatní
Název	Application of microscopy methods for characterization of silicon nanostructures
Tvůrce(i)	Hývl, Matěj (FZU-D)_ORCID Müller, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID} Foldyna, M. (CZ) Roca i Cabarrocas, P. (FR) Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Abstracts of The Sixth International Education Forum on Environment and Energy Science. - Tokyo : Academy for Co-creative Education of Environment and Energy Science, Tokyo Institute of Technology, 2017 S. 1-1
Poč.str.	1 s.
Forma vydání	Online - E
Akce	The Sixth International Education Forum on Environment and Energy Science
Datum konání	15.12.2017 - 19.12.2017
Místo konání	Tenerife, Canary Islands
Země	ES - Španělsko
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	JP - Japonsko
Klíč. slova	C-AFM ; Atomic force microscopy ; radial junctions ; nanowires ; photovoltaics ; silicon
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Obor OECD	Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
CEP	LM2015087 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	7AMB16FR040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	GB14-37427G GA ČR - Grantová agentura ČR
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Anotace	Given the rise of importance of nanostructures in the field of photovoltaics and electronics, necessity of nanometer-resolved characterization methods is increasing accordingly. While atomic force microscopy (AFM) measurements are currently widely used as a reliable tool for topographical characterization, situation is much more complicated in case of electrical techniques. In this work, we would like to present several examples of conductive AFM (C-AFM) application for solar cell characterization.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2018

Počet záznamů: 1