Počet záznamů: 1

Metoda dvou záření na určení velikosti krystalitů a mikrodeformací

  1. 1.
    0350639 - FZU-D 2011 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Čerňanský, Marian
    Metoda dvou záření na určení velikosti krystalitů a mikrodeformací.
    [Method of two wavelengths for determination of crystallite size and microstrain.]
    Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Roč. 17, 2a (2010), k88-k89 ISSN 1211-5894.
    [Struktura 2010. Soláň, 14.06.2010-17.06.2010]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100801
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
    Klíčová slova: diffraction broadening * wavelength * microstrain * crystallite size
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    http://www.xray.cz/ms/bul2010-2a/cernansky.pdf http://www.xray.cz/ms/bul2010-2a/cernansky.pdf

    Jsou odvozeny kvantitativní vztahy k určení velikosti krystalitů a mikrodeformací z difrakčního rozšíření linií změřeného se zářeními o dvou různých vlnových délkách. Případ více různých vlnových délek je rovněž diskutován.

    There are derived quantitative relations for the estimation of crystallite size and microstrain from the diffraction broadening of lines, which were measured by the radiations with two different wavelengts. The case of more wavelengths is also discussed.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190587