Počet záznamů: 1

Lu.sub.3./sub.Al.sub.5./sub.O.sub.12./sub.-based materials for high 2D-resolution scintillation detectors

  1. 1.
    0337539 - FZU-D 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Nikl, Martin - Touš, J. - Mareš, Jiří A. - Průša, Petr - Mihóková, Eva - Blažek, K. - Vedda, A. - Zorenko, Y. - Gorbenko, V. - Babin, V.
    Lu3Al5O12-based materials for high 2D-resolution scintillation detectors.
    [Lu3Al5O12 materiály pro 2D scintilační detektory s vysokým rozlišením.]
    Non-Intrusive Inspection Technologies II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Blackburn, B.), 731008/1-731008/10. Proceedings of SPIE, 7310. ISBN 9780819475763. ISSN 0277-786x.
    [Defense, Security, and Sensing 2009. Orlando (US), 13.04.2009-17.04.2009]
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100802
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: thin scintillator films * 2D imaging * Ce-doped Lu3Al5O12(LuAG) * liquid phase epitaxy growth * thermoluminescence
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    http://dx.doi.org/10.1117/12.818125

    About 20μm thick Ce-doped Lu3Al5O12 thin films grown by Liquid Phase Epitaxy and thin plates of similar thickness prepared by mechanical cutting and polishing from Czochralski grown crystals are used in 2D imaging experiment down to μm resolution.

    Okolo 20μm tenké Ce-dotované vrstvy Lu3Al5O12 připravené metodou epitaxe z kapalné fáze a tenké destičky podobné tlouštky připravené řezáním a optickým leštěním z krystalů vypěstovaných metodou Czochralského jsou používány pro 2D-zobrazování s rozlišením v oblasti μm
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0181510