Počet záznamů: 1

Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy

  1. 1.
    0334118 - FZU-D 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Pelka, J. B. - Sobierajski, R. - Klinger, D. - Paszkowicz, W. - Krzywinski, J. - Jurek, M. - Zymierska, D. - Wawro, A. - Petroutchik, A. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Cihelka, Jaroslav - Chalupský, Jaromír - Burian, T. - Vyšín, Luděk - Toleikis, S. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Zastrau, U. - London, R. - Hau-Riege, S. - Riekel, C. - Davies, R. - Burghammer, M. - Dynowska, E. - Szuszkiewicz, W. - Caliebe, W. - Nietubyc, R.
    Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy.
    [Poškození pevné látky ozářené jednotlivým impulzem XUV laseru s volnými elektrony: nevratné změny povrchu sledované pomocí rtg. mikrodifrakce, mikroskopie atomárních sil a Nomarského optické mikroskopie.]
    Radiation Physics and Chemistry. Roč. 78, Suppl. 10 (2009), S46-S52 ISSN 0969-806X
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠk LC510; GA MŠk(CZ) LC528; GA MŠk LA08024; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: XUV FEL * radiation damage * ablation * structure modifications * x-ray diffraction
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.149, rok: 2009

    The article presents preliminary investigation results on the near-surface damage produced by single pulses of XUV free-electron laser in the amorphous alpha-SiO2, the monocrystalline silicon and the epitaxial films of gold.

    Článek pojednává o strukturních změnách indukovaných XUV laserem s volnými elektrony v amorfním křemeni, monokrystalickém křemíku a epitaxních tenkých vrstvách zlata.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178937