Počet záznamů: 1

Spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions in solids: possibilities and limitations

  1. 1.
    0330031 - FZU-D 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Dejneka, Alexandr - Aulika, I. - Trepakov, Vladimír - Křepelka, Jaromír - Jastrabík, Lubomír - Hubička, Zdeněk - Lynnyková, Anna
    Spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions in solids: possibilities and limitations.
    [Aplikace spektrální elipsometrie při studiu fázových přechodů v pevných látkách: možnosti a limity.]
    Optics Express. Roč. 17, č. 16 (2009), 14322-14338 ISSN 1094-4087
    Grant CEP: GA ČR GC202/09/J017; GA AV ČR KJB100100703; GA AV ČR KAN301370701; GA MŠk(CZ) 1M06002
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: spectroscopic ellipsometry * phase transitions * oxide thin films and crystals * optics at surfaces
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.278, rok: 2009

    The possibilities of in situ spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions investigation in oxide thin films and crystals are examined in this work, along with the use of various parameters calculated from ellipsometric data (band gap energy Eg, refractive index n and surface roughness) together with the directly measured main ellipsometric angles ψ and Δ, for the detection of phase transitions.

    Byly studovány možnosti aplikace in situ spektrální elipsometrie při výzkumu fázových přechodů tenkých vrstev a krystalů vybraných oxidů s využitím parametrů (energie zakázaného pásu Eg, index lomu a povrchová drsnost) vypočtených na základě experimentálních elipsometrických dat. Současně měření hlavních elipsometrických uhlů ψ a Δ bylo využito k přímé detekci fázových přechodů.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0175905