Počet záznamů: 1

Characterization of carbon nanolayers flash evaporated on PET and PTFE

  1. 1.
    0330030 - UJF-V 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Švorčík, V. - Hubička, T. - Slepička, P. - Siegel, J. - Kolská, Z. - Bláhová, O. - Macková, Anna - Hnatowicz, Vladimír
    Characterization of carbon nanolayers flash evaporated on PET and PTFE.
    [Charakterizace uhlíkových nano-vrstev napařených na PET a PTFE.]
    Carbon. Roč. 47, č. 7 (2009), s. 1770-1778 ISSN 0008-6223
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LC06041; GA ČR GA106/09/0125
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
    Klíčová slova: carbon nano-layers * flash evaporation * PET
    Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Impakt faktor: 4.504, rok: 2009

    Carbon nanolayers were prepared by flash evaporation of carbon filaments onto polyethyleneterephthalate and polytetrafluoroethylene substrates. The chemical composition of the deposited layers was determined using Raman, XPS, RBS and ERDA. Also the concentration of free radicals in the deposited layer was determined by EPR method. The thickness of the deposited carbon layer as a function of the deposition distance was determined by a scratch technique and AFM. Surface morphology of the samples was examined by AFM and nanointendation was used to determine microhardness and elasticity modulus and to perform scratch tests. The thickness of the deposited carbon layer decreases with increasing distance between the substrate and the filament. In addition to the dominant amorphous carbon fraction (a-C), various oxidized structures and hydrogen admixture in the deposited material were observed.

    Uhlíkové nanovrstvy byly připravovány flash napařováním z uhlíkového vlákna na polyetyléntereftalát a na potetrafluoroetylén. Chemické složení deponovaných vrstev bylo studováno metodami Ramanovské spektroskopie, RBS, XPS a ERDA. Koncentrace volných radikálů byla měřena metodou EPR. Tloušťka deponovaných vrstev byla sledována v závislosti na vzdálenosti uhlíkového vlákna a substrátu metodou AFM a vrypového testu. AFM byla použita také pro studium povrchové morfologie a nanoindentační metoda pro měření mikrodrsnosti připravených nanovrstev a jejich modulu pružnosti. Tloušťka uhlíkových nanovrstev se snižuje se zvětšující se depoziční vzdáleností. Struktura nanovrstev vykazuje dominantní podíl amorfního uhlíku (a-C), různé kyslíkové struktury a příměsi vodíku v deponovaných vrstvách. Depozice uhlíkových nanovrstev vede k signifikantními poklesu povrchového elektrického odporu ve srovnání s čistým polymerem a změny jsou funkcí depoziční vzdálenosti.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0175904