Počet záznamů: 1

Surface-Induced Dissociation and Chemical Reactions of C2D4+ on Stainless Steel, Carbon (HOPG), and Two Different Diamond Surfaces

  1. 1.
    0324432 - UFCH-W 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Feketeová, L. - Žabka, Ján - Zappa, F. - Grill, V. - Scheier, P. - Märk, T. D. - Herman, Zdeněk
    Surface-Induced Dissociation and Chemical Reactions of C2D4+ on Stainless Steel, Carbon (HOPG), and Two Different Diamond Surfaces.
    [Disociace indukované srážkou s povrchem a chemické reakce C2D4+ na nerezu, uhlíku (HOPG) a dvou různých diamantových površích.]
    Journal of the American Society for Mass Spectrometry. Roč. 20, č. 6 (2009), s. 927-938 ISSN 1044-0305
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40400503
    Klíčová slova: surface-induced process * diamond surfaces * chemical reactions
    Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
    Impakt faktor: 3.391, rok: 2009

    Surface-induced interactions of the projectile ion C2D4+ with room-temperature (hydrocarbon covered) stainless steel, carbon highly oriented pyrolytic graphite (HOPG), and two different types of diamond surfaces (O-terminated and H-terminated) were investigated over the range of incident energies from a few eV up to 50 eV. The relative abundance of the product ions in dependence on the incident energy of the projectile ion [collision-energy resolved mass spectra, (CERMS) curves] was determined. The product ion mass spectra contained ions resulting from direct dissociation of the projectile ions, from chemical reactions with the hydrocarbons on the surface, and (to a small extent) from sputtering of the surface material. Sputtering of the surface layer by low-energy Ar+ ions (5-400 eV) indicated the presence of hydrocarbons on all studied surfaces.

    Disociace projektilového iontu C2D4+ indukované srážkami s povrchy nerezu, uhlíku (HOPG) a dvou druhů diamantu (zakončeného O- a H-atomy) při pokojové teplotě (a tudíž pokrytými uhlovodíky) byly studovány v oblasti srážkových energií projektilu of několika eV do asi 50 eV. Byly určeny relativní četnosti produktových iontů v závislosti na srážkové energii projektilu (křřivky CERMS). Hmotnostní spektra produktových iontů obsahovala ionty vzniklé přímou disociací projektilu, ionty vzniklé chemickými reakcemi s uhlovodíky na povrchu a (v malé míře) ionty vzniklé rozprášením materiálu povrchu. Rozprášení povrchové vrstvy pomocí iontů Ar+ (5-400 eV) indikovalo přítomnost uhlovodíků na všech studovaných površích.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172134