Vyžádat soubor

Reference/citace:  ZEIPL, R., JELÍNEK, M., VANIŠ, Jan, REMSA, J., KOCOUREK, T., NAVRÁTIL, J. Scanning thermal microscopy of Bi2Te3 and Yb0.19Co4Sb12 thermoelectric films. Applied Physics A - Materials Science & Processing. 2016, 122(4), 478. ISSN 0947-8396. E-ISSN 1432-0630
Vyžádané dokumenty:  UFE 0469519.pdf - Jiná
Tento vyžádaný dokument není dostupný v režimu otevřeného přístupu (open access). Prostřednictvím níže dostupného formuláře však můžete požádat autora o kopii dokumentu. Pokud bude Vaše žádost akceptována, dokument obdržíte e-mailem.