Vyžádat soubor

Reference/citace:  GERMER, S., PIETAG, F., POLÁK, Jaroslav, ARNOLD, T. Quantitative low-energy ion beam characterization by beam profiling and imaging via scintillation screens. Review of Scientific Instruments. 2016, 87(11), 113301. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
Vyžádané dokumenty:  Quantitative low-energy ion beam characterization by beam profiling and imaging via scintillation screens.pdf - Vydavatelský postprint
Tento vyžádaný dokument není dostupný v režimu otevřeného přístupu (open access). Prostřednictvím níže dostupného formuláře však můžete požádat autora o kopii dokumentu. Pokud bude Vaše žádost akceptována, dokument obdržíte e-mailem.

Pole označena znakem * je nutné vyplnit.

(Universities, research institutions, associations …)

Quantitative low-energy ion beam characterization by beam profiling and imaging via scintillation screens.pdf

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše