Výsledky vyhledávání
- 1.0575225 - FZÚ 2024 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Hlushko, K. - Ziegelwanger, T. - Reisinger, M. - Todt, J. - Meindlhumer, M. - Beuer, S. - Rommel, M. - Greving, I. - Flenner, S. - Kopeček, Jaromír - Keckes, J. - Detlefs, C. - Yildirim, C.
Intragranular thermal fatigue of Cu thin films: Near-grain boundary hardening, strain localization and voiding.
Acta Materialia. Roč. 253, July (2023), č. článku 118961. ISSN 1359-6454. E-ISSN 1873-2453
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760
Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Výzkumná infrastruktura: CzechNanoLab II - 90251
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: copper * dark field X-ray microscopy * residual stress * tThermal fatigue * tThin film
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 9.4, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349368Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0575225.pdf 0 17.4 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen - 2.0568858 - FZÚ 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Kunio, K. - Espinoza Herrera, Shirly J. - Khakurel, Krishna
Generation of uniform X-ray illumination and its application to X-ray diffraction microscopy.
Photonics. Roč. 9, č. 12 (2022), č. článku 934. E-ISSN 2304-6732
Grant CEP: GA MŠMT EF16_019/0000789; GA MŠMT EF15_003/0000447; GA MŠMT(CZ) LM2018141
Grant ostatní: OP VVV - ADONIS(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000789; OP VVV - ELIBIO(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_003/0000447
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: X-ray microscopy * flat-top X-ray beams * X-ray free-electron lasers
Obor OECD: Particles and field physics
Impakt faktor: 2.4, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0340130Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0568858.pdf 2 3.3 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen - 3.0510672 - FZÚ 2020 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Ohashi, H. - Higashiguchi, T. - Suzuki, Y. - Arai, G. - Otani, Y. - Yatagai, T. - Li, B. - Dunne, P. - O'Sullivan, G. - Jiang, W. - Endo, Akira - Sakaue, H.A. - Kato, D. - Murakami, I. - Tamura, M. - Sudo, S. - Koike, F. - Suzuki, Ch.
Quasi-Moseley's law for strong narrow bandwidth soft x-ray sources containing higher charge-state ions.
Applied Physics Letters. Roč. 104, č. 23 (2014), s. 1-5, č. článku 234107. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA MŠMT ED2.1.00/01.0027; GA MŠMT EE2.3.20.0143
Grant ostatní: HILASE(XE) CZ.1.05/2.1.00/01.0027; OP VK 6(XE) CZ.1.07/2.3.00/20.0143
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: thin plasmas of high-Z elements * x-ray microscopy
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.302, rok: 2014
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1063/1.4883475
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0301088 - 4.0475071 - FZÚ 2018 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Grzybowski, M.J. - Wadley, P. - Edmonds, K. W. - Beardsley, R. - Hills, V. - Campion, R. P. - Gallagher, B. L. - Chauhan, J.S. - Novák, Vít - Jungwirth, Tomáš - Maccherozzi, F. - Dhesi, S.S.
Imaging current-induced switching of antiferromagnetic domains in CuMnAs.
Physical Review Letters. Roč. 118, č. 5 (2017), 1-5, č. článku 057701. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA MŠMT LM2015087; GA ČR GB14-37427G; GA MŠMT(CZ) LM2011026
GRANT EU: European Commission(XE) 268066 - 0MSPIN
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: spintronics * antiferromagnets * domains * x-ray microscopy
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 8.839, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0271951 - 5.0425705 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Li, B. - Higashiguchi, T. - Otsuka, T. - Jiang, W. - Endo, Akira - Dunne, A. - O´Sullivan, G.
"Water window" sources: Selection based on the interplay of spectralproperties and multilayer reflection bandwidth.
Applied Physics Letters. Roč. 102, č. 4 (2013), " 041117-1"-" 041117-4". ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA MŠMT ED2.1.00/01.0027; GA MŠMT EE2.3.20.0143
Grant ostatní: HILASE(XE) CZ.1.05/2.1.00/01.0027; OP VK 6(XE) CZ.1.07/2.3.00/20.0143
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: X-ray microscopy * radiation * extreme * plasma * lithography * emission
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 3.515, rok: 2013
http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/102/4/10.1063/1.4789982
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0231512 - 6.0090020 - FZÚ 2008 RIV NL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jamelot, G. - Ros, D. - Rus, Bedřich - Kozlová, Michaela - Cassou, K. - Kazamias, S. - Klisnick, A. - Mocek, Tomáš - Homer, Pavel - Polan, Jiří - Stupka, Michal
X-ray laser interference microscopy for advanced studies of laser-induced damages.
[Interferenční mikroskopie s rtg. laserem pro pokročilé studium poškozování optických povrchů.]
X-Ray lasers 2006. Dordrecht: Springer-Verlag, 2007 - (Nickles, P.; Janulewicz, K.), s. 571-576. Springer proceedings in physics, 115. ISBN 978-1-4020-6017-5. ISSN 0930-8989.
[International Conference on X-ray Lasers/10./ – ICXRL 2006. Berlin (DE), 21.08.2006-25.08.2006]
Grant CEP: GA ČR GA202/05/2316; GA MŠMT(CZ) LC528
GRANT EU: European Commission(XE) HPMT-CT-2001-00263; European Commission(XE) 506350 - LASERLAB-EUROPE
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: x-ray laser * x-ray interferometry * x-ray microscopy * laser-induced optical damage
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0151046