Výsledky vyhledávání
- 1.0536755 - ÚPT 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Piňos, Jakub - Radlička, Tomáš - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona - Materna Mikmeková, Eliška
Very Low Energy Electron Transmission Spectroscopy of 2D Materials.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 26, S2 (2020), s. 2636-2638. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: spectroscopy * very low energy electron transmission * 2D materials
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 4.127, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.cambridge.org/core/journals/microscopy-and-microanalysis/article/very-low-energy-electron-transmission-spectroscopy-of-2d-materials/2F6DF5F745E2CCA1AFA45F451D68BD41
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314644 - 2.0519852 - ÚPT 2020 RS eng A - Abstrakt
Müllerová, Ilona - Daniel, Benjamin - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Materna Mikmeková, Eliška
Advanced techniques for low- and very-low energy SEM using reflected and transmitted signals.
MCM 2019. 14th Multinational Congress on Microscopy. Proceedings. Belgrade: University of Belgrade, 2019. s. 98-99. ISBN 978-86-80335-11-7.
[Multinational Congress on Microscopy /14./. 15.09.2019-20.09.2019, Belgrade]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very-low energy electron microscopy * very-low energy electron microscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0304834 - 3.0510315 - ÚPT 2020 DE eng A - Abstrakt
Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very Low Energy Electron Transmission Spectro-Microscopy.
Microscopy Conference: MC 2019. Abstracts. Berlin: DSE, 2019. s. 609-610.
[Microscopy Conference : MC 2019. 01.09.2019-05.09.2019, Berlin]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy * electron transmission spectro-microscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://www.microscopy-conference.de
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300821 - 4.0450822 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk - Knápek, Alexandr - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Walker, Christopher - Müllerová, Ilona
Scanning low-and very low energy electron microscopy.
12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 218-220. ISBN 978-963-05-9653-4.
[MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy * scanning low energy electron microscopy * crystallography, graphene * tissue sections
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252034 - 5.0439712 - ÚJF 2015 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Rosendahl, S. - Bokeloh, K. - Brown, E. - Cristescu, R. - Fieguth, A. - Huhmann, C. - Lebeda, Ondřej - Levy, C. - Murra, M. - Schneider, S. - Vénos, Drahoslav - Weinheimer, C.
A novel Kr-83m tracer method for characterizing xenon gas and cryogenic distillation systems.
Journal of Instrumentation. Roč. 9, OCT (2014), p10010. ISSN 1748-0221. E-ISSN 1748-0221
Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP203/12/1896; GA MŠMT(XE) LM2011019
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: photon detectors for UV * visible and IR photons (gas) * gas systems and purification * scintillators, scintillation and light emission processes (solid, gas and liquid scintillators) * very low-energy charged particle detectors
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Impakt faktor: 1.399, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0242935 - 6.0437839 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
Examination of Graphene with Very Slow Electrons.
NANOCON 2014. 6th International conference proceedings. Ostrava: TANGER, 2014. ISBN 978-80-87294-55-0.
[NANOCON 2014. International Conference /6./. Brno (CZ), 05.11.2014-07.11.2014]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * slow electrons * very low energy scanning electron microscopy * ultralow energy STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0241324 - 7.0436864 - ÚPT 2015 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Knápek, Alexandr - Pokorná, Zuzana
A method for extraction of crystallography-related information from a data cube of very-low-energy electron micrographs.
Ultramicroscopy. Roč. 148, JAN 2015 (2015), s. 52-56. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
Klíčová slova: Very low energy * Scanning electron microscopy * SLEEM * Data cube * Image processing
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.874, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240516 - 8.0423855 - ÚPT 2014 GR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr
Very low energy electrons as a tool for investigation of polycrystalline materials.
IMA 2013. 8th International Conference on Instrumental Methods of Analysis: Modern Trends and Applications. Book of Abstracts. Thessaloniki: Laboratory of Analytical Chemistry, Department of Chemical Engineering, AUTh, 2013, s. 146.
[IMA 2013. International Conference on Instrumental Methods of Analysis: Modern Trends and Applications /8./. Thessaloniki (GR), 15.09.2013-19.09.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy electrons * investigation of polycrystalline materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229907 - 9.0422680 - ÚPT 2014 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Pokorná, Zuzana
Reflectivity of very low energy electrons from polycrystalline metal samples.
Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 9.
[Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: eflectivity * very low energy electros * polyctystalline metal samples
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229233 - 10.0397636 - ÚPT 2014 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Mašek, B. - Jirková, H. - Aišman, D. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Microstructure of X210Cr12 steel after the forming in semi-solid state visualized by very low energy SEM in ultra high vacuum.
Applied Surface Science. Roč. 275, 15 June (2013), s. 403-408. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Very low energy SEM * Crystallographic contrast * Strain mapping * Semi-solid state processing
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.538, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225250