Výsledky vyhledávání
- 1.0368828 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Zemánek, Pavel
Multiple Probe Photonic Force Microscopy.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 682-687. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: photonic force microscopy * scanning probe microscopy * two-photon fluorescence * time-sharing traps
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203061 - 2.0205715 - UPT-D 20030098 RIV PL eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šerý, Mojmír - Jákl, Petr - Ježek, Jan - Jonáš, Alexandr - Zemánek, Pavel - Liška, M.
The use of an optically trapped microprobe for scanning details of surface.
Proceedings of the 13th Polish-Czech-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics (Proc. SPIE 5259). Washington: SPIEThe International Society for Optical Engineering, 2003, s. 166 - 169.
[SPIE: Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. Krzyzowa (PL), 09.09.2002-13.09.2002]
Grant CEP: GA ČR GA101/00/0974
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: optical tweezers * two-photon fluorescence * surface profiling
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101328 - 3.0205631 - UPT-D 20030013 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šerý, Mojmír - Jákl, Petr - Ježek, Jan - Jonáš, Alexandr - Liška, M. - Zemánek, Pavel
Influence of weak reflections from dielectric interfaces on properties of optical trap.
Proceedings of SPIE - The International society for optical engineering. Photonic, devices, and systems II. Prague: SPIE, 2002, s. 624 - 629. ISSN 0277-786X.
[Photonics Prague 2002. Praha (CZ), 26.05.2002-29.05.2002]
Grant CEP: GA ČR GA101/00/0974
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: optical trap * two-photon fluorescence * position sensing
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101244 - 4.0205478 - UPT-D 20020028 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Ježek, Jan - Šerý, Mojmír - Jonáš, Alexandr - Zemánek, Pavel
The use of a microprobe held by a laser beam for the study of the surface reliefs.
Proceedings of SPIE - The International society for optical engineering. Novosibirsk: SPIE, 2002, s. 777 - 783. ISBN 0-8194-4686-6. ISSN 0277-786X.
[SPIE. Novosibirsk (RU), 09.09.2002-13.09.2002]
Grant CEP: GA ČR GA101/00/0974
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: optical tweezers * two-photon fluorescence * microscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101091 - 5.0205424 - UPT-D 20010064 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šerý, Mojmír - Ježek, Jan - Jákl, Petr - Jonáš, Alexandr - Zemánek, Pavel - Liška, M.
Measurement of Intensity Profile in the Focal Region of Microscope Objective.
Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Vol. 2. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001 - (Štrunc, M.; Hradilová, E.), s. 410-414. ISBN 80-214-1992-X.
[Nové trendy ve fyzice. Brno (CZ), 15.11.2001-16.11.2001]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: two-photon fluorescence * focused beam * intensity measurement
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101037 - 6.0109083 - UPT-D 20040087 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Ježek, Jan - Zemánek, Pavel
How the size of a particle approaching dielectric interface influences its behavior.
[Vliv velikosti částice na její chování v blízkosti dielektrického rozhraní.]
Proceedings of SPIE - The International society for optical engineering. Optical Trapping and Optical Micromanipulation (Vol. 5514). Denver: SPIE, 2004, s. 636-642. ISBN 0-8194-5452-4. ISSN 0277-786X.
[SPIE: Optical Trapping and Optical Micromanipulation. Denver (US), 02.08.2004-06.08.2004]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065203
Klíčová slova: optical tweezers * two-photon fluorescence, * particle position detection
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016195