Výsledky vyhledávání
- 1.0431334 - ÚPT 2015 CZ eng A - Abstrakt
Mika, Filip - Konvalina, Ivo - Walker, Christopher
Imaging with STEM detector, experiments vs. simulation.
9th International Conference on Charged Particle Optics. Book of Abstracts. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i, 2014. s. 64. ISBN 978-80-87441-11-4.
[International Conference on Charged Parrticle Optics /9./. 31.08.2014-05.09.2014, Brno]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM * Monte-Carlo simulations * transmitted electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236395 - 2.0420837 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mika, Filip - Novotný, Peter - Konvalina, Ivo
Imaging with a STEM detector, experiments vs. simulation.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 51-52.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM * image contrast * Monte Carlo simulations * transmitted electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227315 - 3.0379939 - ÚPT 2012 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Klein, Pavel - Sýkora, Jiří
Detektor pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu rastrovacího elektronového mikroskopu s velmi pomalými elektrony.
[Detector of transmitted very low energy electrons for the ultra high vacuum scanning low energy electron microscope.]
Interní kód: PP-13 ; 2012
Technické parametry: Realizovaný scintilační detektor velmi pomalých prošlých elektronů pro ultravysokovakuovou aparaturu na bázi monokrystalu YAG, zasouvatelný v rozsahu 100 mm a jemně polohovatelný ve všech třech osách, s fotonásobičem a předzesilovačem.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek laboratorního zařízení nutného pro další vývoj, který byl realizovaný při řešení grantu s předpokladem budoucího komerčního využití v zařízení, jehož je součástí.
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scintillation detector * transmitted electrons * scanning low energy electron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210785 - 4.0379917 - ÚPT 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Very Low Energy STEM and Imaging of Free-standing Foils.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 411:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * cathode lens * transmitted electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210768 - 5.0368827 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
Scanning Very Low Energy Electron Microscopy.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 238-243. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * low energy electrons * grain contrast * transmitted electrons * dopant contrast * thin films
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203060 - 6.0367236 - ÚPT 2012 IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Examination of ultrathin films with slow electrons.
Proceedings of the 10th Multinational Congress on Microscopy 2011. Urbino: SISM, 2011, s. 59-60.
[Multinational Congress on Microscopy 2011 /10./ - MCM 2011. Urbino (IT), 04.09.2011-09.09.2011]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energy electrons * scanning electron microscope * transmitted electrons * reflected electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201982 - 7.0022401 - ÚPT 2006 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrnčiřík, Petr - Romanovský, Vladimír - Müllerová, Ilona
Aquisition of signals from thin foils bombarded with very low energy electrons.
[Získávání signálů z tenkých folií po dopadu elektronů s velmi nízkou energií.]
Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./. Villigen: Paul Scherrer Institute, 2005, s. 43. ISBN N. ISSN 1019-6447.
[Dreiländertagung Microscopy Conference (MC 2005). Davos (CH), 28.08.2005-02.09.2005]
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065405
Klíčová slova: very low energy electrons * scanning electron microscope * transmitted electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111141