Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0540008 - FZÚ 2021 RIV IT eng J - Článek v odborném periodiku
    Schüller, A. - Heinrich, S. - Fouillade, C. - Subiel, A. - De Marzi, L. - Romano, F. - Peier, P. - Trachsel, M. - Fleta, C. - Kranzer, R. - Caresana, M. - Salvador, S. - Busold, S. - Schönfeld, A. - McEwen, M. - Gomez, F. - Šolc, J. - Bailat, C. - Linhart, V. - Jakubek, J. - Pawelke, J. - Borghesi, M. - Kapsch, R.-P. - Knyziak, A. - Boso, A. - Olšovcová, Veronika - Kottler, C. - Poppinga, D. - Ambrožová, Iva - Schmitzer, C.-S. - Rossomme, S. - Vozenin, M.-C.
    The european joint research project UHDpulse - Metrology for advanced radiotherapy using particle beams with ultra-high pulse dose rates.
    Physica Medica. Roč. 80, Dec (2020), s. 134-150. ISSN 1120-1797. E-ISSN 1724-191X
    GRANT EU: European Commission(XE) 18HLT04 - UHDpulse
    Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389005
    Klíčová slova: dosimetry * FLASH beams * absorbed dose * traceability * high dose rates * European metrology project
    Obor OECD: Particles and field physics; Radiology, nuclear medicine and medical imaging (UJF-V)
    Impakt faktor: 2.685, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0317690
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0540008.pdf110.3 MBCC licenceVydavatelský postprintpovolen
     
     
  2. 2.
    0466279 - ÚACH 2017 CZ cze T - Překlad
    Friedecký, B. - Kratochvíl, J. - Klokočníková, E. - Kučera, J. - Plzák, Zbyněk - Suchánek, M. - Sychra, V. - Tichý, J.
    Referenční materiály v chemické analýze.
    [Referance materials in chemical analysis.]
    Praha: EURACHEM-ČR, 2016. Kvalimetrie, 21. ISBN 978-80-86322-09-4. 1.
    Institucionální podpora: RVO:61388980
    Klíčová slova: reference materials * quality assurance * metrological traceability
    Kód oboru RIV: CB - Analytická chemie, separace
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0264616
     
     
  3. 3.
    0397860 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klepetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Holá, Miroslava - Šerý, Mojmír
    Interferometric coordinates measurement sytem for local probe microscopy nanometrology.
    NANOCON 2013, 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE. Ostrava: TANGER Ltd, 2014. ISBN 978-80-87294-47-5.
    [NANOCON 2013. International Conference /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
    Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MPO FR-TI2/705; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Nanometrology * Interferometry * Traceability * Local probe microscopy * Nanopositioning
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225471
     
     
  4. 4.
    0352186 - ÚPT 2011 RIV BG eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Klapetek, P.
    Multiaxis interferometric system for positioning in nanometrology.
    Proceedings of the 9th WSEAS International Conference on Microelectronics, Nanoelectronics, Optoelectronic. Sofia: WSEAS EUROPMENT Press, 2010, s. 92-95. ISBN 978-954-92600-3-8. ISSN 1790-5117.
    [WSEAS International Conference on Microelectronics, Nanoelectronics, Optoelectronic /9./. Catania (IT), 29.05.2010-31.10.2010]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: nanometrology * interferometry * traceability * local probe microscopy * nanopositioning
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191759
     
     
  5. 5.
    0351325 - ÚPT 2011 RIV GR eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír
    Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology.
    WSEAS Transactions on Circuits and Systems. Roč. 9, č. 10 (2010), s. 660-669. ISSN 1109-2734
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GA102/09/1276
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: Interferometry * local probe microscopy * nanometrology * nanopositioning * traceability
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191103
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.