Výsledky vyhledávání
- 1.0536664 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Materna Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří
Držák vzorku pro elektronově indukované čištění v REM.
[Specimen holder for the electron induced cleanning in SEM.]
Interní kód: APL-2020-11 ; 2020
Technické parametry: Funkční vzorek stolku preparátu pro rastrovací prozařovací mikroskopii s extrémně pomalými elektrony tvoří kapsle preparátu s vloženým preparátem, nosné rameno z nevodivého materiálu, držák ramene, upravený vozík stolku a přívod vysokého potenciálu. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností rekonstruovaného stolku preparátu pro mikroskop Magellan 400L, v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ilona Müllerová, DrSc., ilona@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * extremely slow electrons * specimen stage
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314400 - 2.0536023 - ÚPT 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Aoyama, T.
Effect of Native Oxide on Reflectivity of Slow and Super Slow Electrons from Mild Steel Surface.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 26, S2 (2020), s. 1012-1014. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: slow and super slow electrons * effect of native oxide * reflectivity
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 4.127, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
https://www.cambridge.org/core/journals/microscopy-and-microanalysis/article/effect-of-native-oxide-on-reflectivity-of-slow-and-super-slow-electrons-from-mild-steel-surface/A38DD155B92DD04E066D1DB4E6CE86FC
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0313874 - 3.0507132 - ÚPT 2020 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
Transmission of very slow electrons as a diagnostic tool.
NANOCON 2013 - 5th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2014, s. 503-508. ISBN 978-80-87294-47-5.
[International Conference NANOCON 2013 /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: electron microscopy * slow electrons * STEM * graphene * ultrathin tissue sections
Obor OECD: Nano-materials (production and properties); Civil engineering (BC-A)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298349 - 4.0499074 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Frank, Luděk - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří
Spektrometr energií velmi pomalých elektronů.
[Spectrometer of energies of very slow electrons.]
Interní kód: APL-2018-13 ; 2018
Technické parametry: Funkční vzorek byl vyroben s cílem ověřit vlastnosti návrhu a konstrukce spektrometru energií velmi pomalých elektronů na principu doby průletu. Spektrometr obsahuje ve směru průletu elektronů preparát, první elektrodu, transportní tubus, druhou elektrodu, driftovou trubici s elektromagnetickým stíněním a detektor. Preparátem je velmi tenká vrstva libovolného technického materiálu o tloušťce v jednotkách nanometrů, kterou je možné prosvítit velmi pomalými elektrony o energii 100 eV a méně. Dominantní volbou preparátů jsou dvourozměrné krystaly o tloušťce nanejvýš několika atomových vrstev, např. grafén.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: RNDr. Luděk Frank, DrSc., ludek@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: time-of-flight spectrometer * energy distribution of electrons * slow electrons * two-dimensional crystals * graphene
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291357 - 5.0499073 - ÚPT 2019 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Frank, Luděk - Klein, Pavel - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří
Spektrometr energií velmi pomalých elektronů.
[A spectrometer of energies of very slow electrons.]
2018. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 10.12.2018. Číslo vzoru: 32425
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: time-of-flight spectrometer * energy distribution of electrons * slow electrons * two-dimensional crystals * graphene
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0032/uv032425.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291356 - 6.0495025 - ÚPT 2019 IN eng A - Abstrakt
Frank, Luděk - Mikmeková, Eliška
Microscopy and nanotechnology with extremely slow electrons.
lnternational Conference on Recent Trends in Materials Science and Technology. ICMST 2018. Proceedings. Thiruvananthapuram: Indian Institute of Space Science and Technology, 2018.
[lnternational Conference on Recent Trends in Materials Science and Technology. ICMST 2018. 10.10.2018-13.10.2018, Thiruvananthapuram]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: extremely slow electrons * microscopy * nanotechnology
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288059 - 7.0481766 - ÚPT 2018 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Piňos, Jakub - Mikmeková, Eliška - Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Mikroskopie velmi pomalými elektrony v ultrazvukovém vakuu.
[Very slow electrons microscope in ultrahigh vacuum.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 62, č. 10 (2017), s. 264-265. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning microscopy * slow electrons * ultrahigh vacuum * graphene
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277308 - 8.0459102 - ÚPT 2017 RIV HR eng M - Část monografie knihy
Frank, Luděk
Scanning Electron Microscopy with a Retarded Primary Beam.
Modern Electron Microscopy in Physical and Life Sciences. Rijeka: InTech, 2016 - (Janeček, M.; Král, R.), s. 49-78. ISBN 978-953-51-2252-4
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * slow electrons * electron microscopy of materials * biomedical eletron microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0259355 - 9.0437839 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
Examination of Graphene with Very Slow Electrons.
NANOCON 2014. 6th International conference proceedings. Ostrava: TANGER, 2014. ISBN 978-80-87294-55-0.
[NANOCON 2014. International Conference /6./. Brno (CZ), 05.11.2014-07.11.2014]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * slow electrons * very low energy scanning electron microscopy * ultralow energy STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0241324 - 10.0398028 - ÚPT 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Mikmeková, Šárka - Pokorná, Zuzana - Müllerová, Ilona
Scanning Electron Microscopy With Slow Electrons.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 19, S2 (2013), s. 372-373. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Scanning Electron Microscopy * Slow Electrons * Grain Contrast * Contrast of the Density of States * Angle-resolved BSE
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.161, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225603