Výsledky vyhledávání
- 1.0492824 - FZÚ 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Milov, I. - Makhotkin, I.A. - Sobierajski, R. - Medvedev, Nikita - Lipp, V. - Chalupský, Jaromír - Sturm, J.M. - Tiedtke, K. - de Vries, G. - Störmer, M. - Siewert, F. - van de Kruijs, R. - Louis, E. - Jacyna, I. - Jurek, M. - Juha, Libor - Hájková, Věra - Vozda, Vojtěch - Burian, Tomáš - Saksl, K. - Faatz, B. - Keitel, B. - Ploenjes, E. - Schreiber, S. - Toleikis, S. - Loch, R. - Hermann, M. - Strobel, S. - Nienhuys, H.-K. - Gwalt, G. - Mey, T. - Enkisch, H. - Bijkerk, F.
Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser.
Optics Express. Roč. 26, č. 15 (2018), s. 19665-19685. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-05167s; GA MŠMT LG15013
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: free-electron lasers * XUV mirrors * Ruthenium material * single-shot damage of thin films
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.561, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286255 - 2.0372531 - FZÚ 2012 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hájková, Věra - Juha, Libor - Boháček, Pavel - Burian, Tomáš - Chalupský, Jaromír - Vyšín, Luděk - Gaudin, J. - Heimann, P.A. - Hau-Riege, S.P. - Jurek, M. - Klinger, D. - Pelka, J. - Sobierajski, R. - Krzywinski, J. - Messerschmidt, M. - Moeller, S.P. - Nagler, B. - Rowen, M. - Schlotter, W.F. - Swiggers, M.L. - Turner, J.J. - Vinko, S.M. - Whitcher, T. - Wark, J. - Matuchová, M. - Bajt, S. - Chapman, H. - Fäustlin, R. - Singer, A. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Vartaniants, I. - Wabnitz, H. - Dzelzainis, T. - Riley, D. - Andreasson, J. - Hajdu, J. - Iwan, B. - Timneanu, N. - Saksl, K.
X-ray laser-induced ablation of lead compounds.
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Bellingham: SPIE, 2011 - (Juha, L.; Bajt, S.; London, R.), 807718/1-807718/7. Proceedings of SPIE, 8077. ISBN 9780819486677. ISSN 0277-786X.
[Conference on Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics III. Prague (CZ), 18.04.2011-20.04.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ME10046; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA ČR GAP205/11/0571; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA ČR(CZ) GAP108/11/1312
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: extreme ultraviolet laser * x-ray laser * free electron laser * radiation damage * laser ablation * damage thresholds * single-shot damage
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.890134
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205829 - 3.0335777 - FZÚ 2010 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hájková, Věra - Chalupský, Jaromír - Wabnitz, H. - Feldhaus, J. - Störmer, M. - Hecquet, Ch. - Mocek, Tomáš - Kozlová, Michaela - Polan, Jiří - Homer, Pavel - Rus, Bedřich - Juha, Libor
Damage thresholds of various materials irradiated by 100-ps pulses of 21.2-nm laser radiation.
[Prahy poškození různých materiálů ozářených 100-ps pulzy laserového záření o vlnové délce 21,2 nm.]
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. Bellingham: SPIE, 2009 - (Juha, L.; Bajt, S.; Sobierajski, R.), 736110/1-736110/6. Proceedings of SPIE, 7361. ISBN 9780819476357. ISSN 0277-786x.
[Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II. Prague (CZ), 21.04.2009-23.04.2009]
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Grant ostatní: LASERLAB-EUROPE(XE) RII3-CT-2003-506350
Program: FP6
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: soft x-ray laser * damage to x-ray optics * laser ablation * damage thresholds * single-shot damage
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
http://dx.doi.org/10.1117/12.822950
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180148 - 4.0334101 - FZÚ 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Juha, Libor - Hájková, Věra - Chalupský, Jaromír - Vorlíček, Vladimír - Ritucci, A. - Reale, A. - Zuppella, P. - Störmer, M.
Radiation damage to amorphous carbon thin films irradiated by multiple 46.9 nm laser shots below the single-shot damage threshold.
[Radiační poškození tenkých vrstev amorfního uhlíku ozářených několika 46.9-nm laserovými pulzy pod prahem poškození jedním impulzem.]
Journal of Applied Physics. Roč. 105, č. 9 (2009), 093117/1-093117/3. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA MŠMT LA08024; GA AV ČR IAA400100701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: single-shot damage threshold * multiple-shot exposure damage * amorphous carbon * radiation erosion * capillary-discharge XUV laser
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 2.072, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178924