Výsledky vyhledávání
- 1.0582247 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Tkachenko, V. - Lipp, V. - Buescher, M. - Capotondi, F. - Hoeppner, H. - Medvedev, Nikita - Pedersoli, E. - Prandolini, M.J. - Rossi, G.M. - Tavella, F. - Toleikis, S. - Windeler, M. - Ziaja, B. - Teubner, U.
Effect of Auger recombination on transient optical properties in XUV and soft X-ray irradiated silicon nitride.
Scientific Reports. Roč. 11, č. 1 (2021), č. článku 5203. ISSN 2045-2322. E-ISSN 2045-2322
Grant CEP: GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT EF16_013/0001552
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: XUV * X-ray * silicon nitride
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 4.997, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.nature.com/articles/s41598-021-84677-w
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0350345 - 2.0582124 - ÚFM 2025 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
de la Torre, G. M. O. - Tatarková, M. - Netriova, Z. - Barlog, M. - Bertolla, Luca - Hnatko, M. - Taveri, Gianmarco
Applying the Alkali-Activation Method to Encapsulate Silicon Nitride Particles in a Bioactive Matrix for Augmented Strength and Bioactivity.
Materials. Roč. 17, č. 2 (2024), č. článku 328. E-ISSN 1996-1944
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: bioceramic * silicon nitride * alkali-activation method * combeite * bioactivity
Obor OECD: Biomaterials (as related to medical implants, devices, sensors)
Impakt faktor: 3.4, rok: 2022
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.mdpi.com/1996-1944/17/2/328
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0352956 - 3.0578067 - ÚFP 2024 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Lukeš, Jakub - Kanclíř, Vít - Václavík, Jan - Melich, Radek - Fuchs, U. - Žídek, Karel
Optically modified second harmonic generation in silicon oxynitride thin films via local layer heating.
Scientific Reports. Roč. 13, č. 1 (2023), č. článku 8658. ISSN 2045-2322. E-ISSN 2045-2322
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390; GA ČR(CZ) GA23-08020S
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: silicon nitride * strong second harmonic generation * thin films
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 4.6, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.nature.com/articles/s41598-023-35593-8
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0347092 - 4.0571959 - FZÚ 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Ryabchikov, Yury V.
Plasmon-affected luminescent nanothermometry with multi-band SiNPs/ SiNx nanocomposites.
Journal of Luminescence. Roč. 260, Aug (2023), č. článku 119891. ISSN 0022-2313. E-ISSN 1872-7883
Grant CEP: GA MŠMT EF15_003/0000445
GRANT EU: European Commission(XE) 897231 - LADENTHER
Grant ostatní: OP VVV - BIATRI(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_003/0000445
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: optical nanothermometry * photoluminescence * silicon nitride * silicon nanoparticles * plasmonic nanostructures
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.6, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0342814Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0571959.pdf 0 5.3 MB CC BY-NC-ND licence Vydavatelský postprint povolen - 5.0566394 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Sháněl, O. - Schneider, M. - Řiháček, Tomáš - Radlička, Tomáš
Si3Nx fázová destička pokrytá vodivou vrstvou.
[Si3Nx phase plates covered by conductive layer.]
Interní kód: APL-2022-15 ; 2022
Technické parametry: Křemíkový čip nesoucí tenkou nitridovou membránu, která je pokrytá tenkou vodivou molybdenovou vrstvou. Otvor membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Z membrány je vytvořena fázová destička tím, že je v jejím středu udělaný otvor optimalizovaných rozměrů pomoci technologie fokusovaného iontového svazku. Tloušťka molybdenové vrstvy je optimalizovaná pro výsledný fázový posuv pi/2. Součástí funkčního vzorku je modifikovaný držák apertur, který umožňuje její umístění do zadní ohniskové roviny transmisního elektronového mikroskopu.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337734 - 6.0555694 - ÚFP 2022 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Das, Nirmal Kumar - Kanclíř, Vít - Mokrý, Pavel - Žídek, Karel
Bulk and interface second harmonic generation in the Si3N4 thin films deposited via ion beam sputtering.
Journal of Optics. Roč. 23, č. 2 (2021), č. článku 024003. ISSN 2040-8978. E-ISSN 2040-8986
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) EF16_026/0008390; GA ČR(CZ) GA19-22000S
Grant ostatní: AV ČR(CZ) ERC100431901
Program: ERC-CZ/AV
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: silicon nitride * thin films * ellipsometry * second harmonic generation (SHG) * bulk * interface
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 2.077, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/2040-8986/abe450
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0330158 - 7.0550697 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Sháněl, O. - Schneider, M. - Materna Mikmeková, Eliška - Řiháček, Tomáš - Podstránský, Jáchym - Radlička, Tomáš
Si3Nx fázová destička.
[Si3Nx phase plates.]
Interní kód: APL-2021-05 ; 2021
Technické parametry: Křemíkový čip nesoucí tenkou nitridovou membránu. Rozměr (Okénko v křemíkovém čipu) membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Tloušťka membrány je optimalizovaná tak, aby v posouvala fázi procházejícího svazku o pi/2. Čip je upevněný na platinové clonce o průměru 3 mm a ve středu clonky je malý otvor o rozměrech v jednotkách µm, který byl vytvořen pomoci FIB/SEM, tak aby odpovídal velikosti nultého řádu difrakce v zadní objektivové rovině.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326001 - 8.0545328 - FZÚ 2022 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Tkachenko, V. - Lipp, V. - Buescher, M. - Capotondi, F. - Hoeppner, H. - Medvedev, Nikita - Pedersoli, E. - Prandolini, M.J. - Rossi, G.M. - Tavella, F. - Toleikis, S. - Windeler, M. - Ziaja, B. - Teubner, U.
Effect of Auger recombination on transient optical properties in XUV and soft X-ray irradiated silicon nitride.
Scientific Reports. Roč. 11, č. 1 (2021), č. článku 5203. ISSN 2045-2322. E-ISSN 2045-2322
Grant CEP: GA MŠMT LTT17015
GRANT EU: European Commission(XE) 654148 - LASERLAB-EUROPE
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: temporal diagnostics of FEL pulses * optical properties of silicon nitride irradiated by XUV and soft X-ray
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 4.997, rok: 2021
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0322052Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0545328.pdf 2 2.4 MB CC Licence Vydavatelský postprint povolen - 9.0542944 - ÚFM 2022 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Tatarková, M. - Tatarko, P. - Kovalčíková, A. - Dlouhý, Ivo - Dusza, J. - Šajgalík, P.
Influence of hexagonal boron nitride nanosheets on phase transformation, microstructure evolution and mechanical properties of Si3N4 ceramics.
Journal of the European Ceramic Society. Roč. 41, č. 10 (2021), s. 5115-5126. ISSN 0955-2219. E-ISSN 1873-619X
Grant ostatní: AV ČR(CZ) SAV-18-12; AV ČR(CZ) SAV-21-04
Program: Bilaterální spolupráce; Bilaterální spolupráce
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: fracture-toughness * fabrication * composites * nanocomposites * nanotubes * behavior * Silicon nitride * Boron nitride nanosheets * Microstructure * Toughening * Mechanical properties
Obor OECD: Ceramics
Impakt faktor: 6.364, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0955221921000972?via%3Dihub
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0320318 - 10.0536670 - ÚPT 2021 RIV CZ cze O - Ostatní výsledky
Krátký, Stanislav - Materna Mikmeková, Eliška - Fořt, Tomáš - Radlička, Tomáš - Sháněl, O.
Vývoj a testování fázových destiček.
[Development and testing of phase plates.]
2020
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: transmission electron microscope * phase plates * silicon nitride * charging * EELS
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314406