Výsledky vyhledávání
- 1.0341170 - ÚFE 2010 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Žďánský, Karel - Zavadil, Jiří - Kacerovský, Pavel - Lorinčík, Jan - Vaniš, Jan - Kostka, František - Černohorský, O. - Fojtík, A. - Reboun, J. - Čermák, Jan
Electrophoresis deposition of metal nanoparticles with reverse micelles onto InP.
International Journal of Materials Research. Roč. 100, č. 9 (2009), s. 1234-1238. ISSN 1862-5282. E-ISSN 2195-8556
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512; CEZ:AV0Z50200510; CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: semiconductor junctions * nanostructures * semiconductor devices
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.862, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0184242 - 2.0303425 - URE-Y 990016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Žďánský, Karel - Hawkins, I.
Slow decay of photoconductivity caused by tin-related DX centres in AlGaAs.
Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 49, č. 5 (1999), s. 813-821. ISSN 0011-4626.
[Czech-Chinese Workshop on Advanced Materials for Optoelectronics - AMFO'98. Prague, 15.06.1998-17.06.1998]
Grant ostatní: AV ČR(CZ) KSK1010601 Projekt 7/96/K:4074
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: deep levels * III-V semiconductors * semiconductor junctions
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.328, rok: 1999
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0003140 - 3.0302568 - URE-Y 940047 CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Walachová, Jarmila - Miles, R. J. - Collins, D. A. - McGill, T. C.
Characterisation of materials and nanostructures by ballistic electron emission microscopy (BEEM).
Brno: PCDIR, 1994. ISBN 80-85895-02-1. In: Nanometrology Scanning Probe Microscopy and Related Techniques. - (Tománek, P.; Spajer, M.), s. 29-34
[NANO'94. Brno (CZ), 29.08.1994-30.08.1994]
Grant CEP: GA ČR 202/94/1056
Klíčová slova: nanostructured materials * band structure * impurity distribution * semiconductor junctions * measurement
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112946 - 4.0302515 - URE-Y 940038 US eng J - Článek v odborném periodiku
Walachová, Jarmila - Šroubek, Zdeněk - Zelinka, Jiří - Kot, Miroslav - Pittroff, W.
From InP/GaInAsP interface study to nanometer range heterostructure detection with probe method.
Journal of Vacuum Science & Technology A : Vacuum, Surfaces and Films. Roč. 12, č. 1 (1994), s. 312-316. ISSN 0734-2101. E-ISSN 1520-8559
Výzkumný záměr: Ústavní úkol č. 0130
Klíčová slova: impurity distribution * semiconductor junctions * measurement
Impakt faktor: 1.771, rok: 1994
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112894 - 5.0302441 - URE-Y 930050 US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Walachová, Jarmila - Šroubek, Zdeněk - Zelinka, Jiří - Kot, Miroslav - Pittroff, W.
From InP/GaInAsP interface study to nanometer range heterostructure detection with contact probe profiling method.
Research Triangle Park: Microelectronics Centre of North Caroline, 1993. In: Proceedings of the Second International Workshop on the Measurement and Characterization of Ultra-Shallow Doping Profiles in Semiconductors. - (Subrahmanyan, R.), s. 103-107
[International Workshop /2./. Research Triangle Park (US), 23.03.1993-25.03.1993]
Výzkumný záměr: Ústavní úkol č. 0130
Klíčová slova: impurity distribution * semiconductor junctions * measurement
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112860 - 6.0302272 - URE-Y 920032 CS1 eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zavadil, Jiří - Puchta, Miloš - Žďánský, Karel
On the impact of waveguiding properties of semiconductor laser structures on electroluminescent spectra.
Praha: ROZVID, 1992. In: Fotonika'92. Sborník referátů., s. 265-269
[Fotonika'92. Olomouc (CS), 08.09.1992-11.09.1992]
Výzkumný záměr: Ústavní úkol č. 0130
Klíčová slova: electroluminescence * semiconductor junctions * optical waveguides
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112738 - 7.0087823 - ÚFE 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Žďánský, Karel - Kacerovský, Pavel - Zavadil, Jiří - Lorinčík, Jan - Fojtík, A.
Layers of metal nanoparticles on semiconductors deposited by electrophoresis from solutions with reverse micelles.
[Vrstvy kovových nanočástic na polovodičích deponované elektroforézou z roztoku s reversními mecellemi.]
Nanoscale Research Letters. Roč. 2, č. 9 (2007), s. 450-454. ISSN 1931-7573. E-ISSN 1556-276X.
[Semiconducting & Insulating Materials Conference - SIMC /14./. Fayetteville, 15.05.2007-20.05.2007]
Grant CEP: GA AV ČR KAN400670651
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: semiconductor junctions * nanostructured materials * semiconductor devices
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.158, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0149565 - 8.0083002 - ÚFE 2007 US eng A - Abstrakt
Žďánský, Karel - Kacerovský, Pavel - Zavadil, Jiří - Lorinčík, Jan - Fojtík, A.
Layers of metal nanoparticles on semiconductors deposited by electrophoresis from solutions with reverse micelles.
[Vrstvy kovových nanočástic na polovodičích deponované elektroforézou z roztoku s reversními mecellemi.]
Abstracts of the Semiconducting & Insulating Materials Conference - SIMC XIV. Fayetteville: University of Arkansas, 2007. s. t0110063--.
[Semiconducting & Insulating Materials Conference - SIMC /14./. 15.05.2007-20.05.2007, Fayetteville]
Grant CEP: GA AV ČR KAN400670651
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: semiconductor junctions * nanostructured materials * semicpnductor devices
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0146394