Výsledky vyhledávání
- 1.0575337 - ÚPT 2024 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Nohl, J. F. - Farr, N. T. H. - Sun, Y. - Hughes, G. M. - Stehling, N. - Zhang, J. - Longman, F. - Ives, G. - Pokorná, Zuzana - Mika, Filip - Kumar, V. - Mihaylova, L. - Holland, C. - Cussen, S. A. - Rodenburg, C.
Insights into surface chemistry down to nanoscale: An accessible colour hyperspectral imaging approach for scanning electron microscopy.
Materials Today Advances. Roč. 19, August (2023), č. článku 100413. ISSN 2590-0498. E-ISSN 2590-0498
Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: chemical imaging * secondary electron hyperspectral imaging * scanning electron microscopy * secondary electrons * machine learning
Obor OECD: Coating and films
Impakt faktor: 10, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2590049823000735
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0345124 - 2.0550698 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Vašina, R. - Seďa, B. - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
Nástavec objektivové čočky s deflektory optimalizovaný pro tubus NiCol.
[Extender for NiCOl column with deflectors.]
Interní kód: APL-2021-13 ; 2021
Technické parametry: Extender je prstenec s upínacím mechanismem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Tento prstenec je navíc vybaven deflekčními poli, pomocí nichž můžeme ovlivňovat trajektorie signálních elektronů. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * compound objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326003 - 3.0536667 - ÚPT 2021 RIV CZ cze O - Ostatní výsledky
Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Řiháček, Tomáš - Seďa, B. - Vašina, R.
Variabilní objektivová čočka.
[Variable objective lens.]
2020
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * variable objective lens * secondary * secondary electrons * resolution
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314403 - 4.0536587 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Seďa, B. - Vašina, R. - Oral, Martin - Řiháček, Tomáš - Radlička, Tomáš
Nástavec pro objektivovou čočku.
[Objective lens extender.]
Interní kód: APL-2020-09 ; 2020
Technické parametry: Extender je prstenec s upínacím mechanizmem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu. Přínos extenderu pro zlepšení vlastností skenovacího elektronového mikroskopu se mění podle operačních podmínek.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Martin Oral, Ph.D., oral@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * variable objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314350 - 5.0523897 - ÚJF 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Friedland, W. - Kundrát, Pavel - Becker, J. - Eidemuller, M.
Biophysical simulation tool PARTRAC: Modelling proton beams at therapy-relevant energies.
Radiation Protection Dosimetry. Roč. 186, 2-3 (2019), s. 172-175. ISSN 0144-8420. E-ISSN 1742-3406
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: Deoxyribonucleic acid * traks * secondary electrons
Obor OECD: Radiology, nuclear medicine and medical imaging
Impakt faktor: 0.773, rok: 2019
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1093/rpd/ncz197
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0308178 - 6.0509318 - ÚFP 2020 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Rymzhanov, R.A. - Medvedev, Nikita - Volkov, A.E.
Effects of model approximations for electron, hole, and photon transport in swift heavy ion tracks.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. Roč. 388, December (2016), s. 41-52. ISSN 0168-583X. E-ISSN 1872-9584
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2015083; GA MŠMT LG15013
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: mean free paths * secondary electrons * optical-properties * alkali-halides * excitation * solids * metals * ionization * simulation * scattering * Swift heavy ion * Electronic stopping * trekis * Monte Carlo * Electronic kinetics * Photon transport
Obor OECD: Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
Impakt faktor: 1.109, rok: 2016
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0168583X16304724?via%3Dihub
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0300065 - 7.0494374 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Rodenburg, C. - Masters, R. - Abrams, K. - Dapor, M. - Krátký, Stanislav - Mika, Filip
Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 68-69. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electrons * polymers * hyperspectral imaging
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0288492 - 8.0482727 - ÚPT 2018 KR eng A - Abstrakt
Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Tsukiori, D. - Arai, R. - Takano, M. - Okuda, K. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Supersensitive surface imaging with very slow secondary electrons.
The 3rd East-Asia Microscopy Conference. Abstract Proceeding. Seoul: Korean Society of Microscopy, 2017.
[East-Asia Microscopy Conference /3./. 07.11.2017-10.11.2017, Busan]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: supersensitive surface * very slow secondary electrons
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0278110 - 9.0482158 - ÚPT 2018 AT eng A - Abstrakt
Mika, Filip - Konvalina, Ivo
Application of the Bandpass Filter for Secondary Electrons in SEM.
Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. Wien: Technische Universitaet Wien, 2017. s. 72.
[SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons. 18.09.2017-22.09.2017, Pula]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: bandpass filter * secondary electrons * SEM
Obor OECD: Coating and films
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277553 - 10.0421170 - ÚPT 2014 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Vyroubal, P. - Maxa, J. - Neděla, Vilém - Jirák, Josef - Hladká, K.
Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope.
Advances in Military Technology. Roč. 8, č. 1 (2013), s. 59-69. ISSN 1802-2308
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Aperture * Laval nozzle * circular orifice * pressure * detector * Mach number * flow * trajectory of secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227591