Výsledky vyhledávání
- 1.0575192 - FZÚ 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Král, Robert - Vaněček, Vojtěch - Křehlíková, Kateřina - Bystřický, Aleš
Scintilační detektor.
[Scintillation detector.]
Interní kód: Scintilační detektor jodidu cesno-měďného ; 2023
Technické parametry: Základní konstrukční díly detektoru se skládají z monokrystalu cesno-měďného jodidu (ze sloučeniny Cs3Cu2I5 nebo CsCu2I3) o průměru 25 mm a délce 10-25 mm, fotonásobiče (ET Enterprises, 9924B90), pouzder pro krystal a fotonásobič a konstrukčních prvků pro propojení krystalu a fotonásobiče.
Ekonomické parametry: Odhadovaná koncová cena scintilačního detektoru je 80000 Kč.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TP01010035
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: scintillation detector * cesium-copper iodides
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0345319 - 2.0573547 - ÚPT 2024 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Maxa, Jiří - Neděla, Vilém - Šabacká, P. - Binar, T.
Impact of Supersonic Flow in Scintillator Detector Apertures on the Resulting Pumping Effect of the Vacuum Chambers.
Sensors. Roč. 23, č. 10 (2023), č. článku 4861. E-ISSN 1424-8220
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-25799S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Ansys Fluent * ESEM * scintillation detector * critical flow * one-dimensional flow theory * aperture * pressure sensor
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 3.9, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/1424-8220/23/10/4861
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0344056 - 3.0568413 - ÚPT 2024 RIV CZ eng A - Abstrakt
Lalinský, Ondřej - Průcha, Lukáš - Skoupý, R.
Graphene-coated scintillators for low-energy electron detection.
16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 444-445. ISBN 978-80-11-02253-2.
[Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA MPO(CZ) FV30271
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * cathodoluminescence efficiency * scintillation detector * low energy
Obor OECD: Coating and films
https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339730 - 4.0547008 - ÚJF 2022 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Tishevsky, A. V. - Gurchin, Y. V. - Isupov, A. Yu. - Janek, M. - Khrenov, A. N. - Kurilkin, P. - Kushpil, Vasilij - Ladygin, V. P. - Mezhenska, O. - Reznikov, S. G. - Terekhin, A. A.
Study of the 16-channel scintillation detector prototype with silicon photomultipliers readout.
AIP Conference Proceedings. Vol. 2377. Maryland: American Institute of Physics Inc., 2021, č. článku 030017. ISBN 978-073544132-3. ISSN 0094-243X.
[International Scientific Conference on Young Scientists and Specialists /24./ (AYSS 2020). online (RU), 09.11.2020-13.11.2020]
Grant CEP: GA MŠMT LTT18021
Institucionální podpora: RVO:61389005
Klíčová slova: silicon photomultipliers * scintillation detector * prototype
Obor OECD: Nuclear physics
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0323373 - 5.0420839 - ÚPT 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Bok, Jan - Schauer, Petr
Mechanism of electron-photon conversion in YAG: Ce scintillator for SEM electron detectors.
Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 121-122.
[Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
Grant CEP: GA MŠMT EE.2.3.20.0103; GA TA ČR TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Everhart-Thornley scintillation detector * cathodoluminiscence * image quality
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227361 - 6.0398503 - FZÚ 2014 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Yanagida, T. - Fujimoto, Y. - Yagi, H. - Yanagitani, T. - Sugiyama, M. - Yamaji, A. - Nikl, Martin
Scintillation properties of transparent ceramics for Nd doped (Y,Gd2)(Sc2Al2Ga)O12
Optical Materials. Roč. 35, č. 4 (2013), s. 788-792. ISSN 0925-3467. E-ISSN 1873-1252
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: transparent ceramic * scintillation detector * Nd3+ * scintillator
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.075, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225999 - 7.0386386 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Bok, Jan - Schauer, Petr
Quality assessment of scintillation detector in SEM using MFT.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 9-10. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scintillation detector in SEM * modulation transfer function * e-beam scanning speed
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215685 - 8.0385262 - ÚPT 2013 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Maxa, J. - Neděla, Vilém - Jirák, J. - Vyroubal, P. - Hladká, K.
Analysis of gas flow in a secondary electron scintillation detector for ESEM with a new system of pressure limiting apertures.
Advances in Military Technology. Roč. 7, č. 2 (2012), s. 39-44. ISSN 1802-2308
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: ESEM, * SEs Scintillation Detector * CFD * CAE * SolidWorks * Ansys
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214577 - 9.0384060 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Maxa, J. - Neděla, Vilém - Jirák, J.
Analysis Of Gas Flow In The New System Of Apertures In The Secondary Electron Scintillation Detector For ESEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 18, Suppl. 2 (2012), s. 1264-1265. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: environmental scanning electron microscope * scintillation detector * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.495, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213815 - 10.0383890 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Jirák, Josef - Čudek, P. - Neděla, Vilém
Scintillation secondary electron detector for ESEM and SEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 18, Suppl. 2 (2012), s. 1266-1267. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: environmental scanning electron microscopes * scintillation detector * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.495, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213687