Výsledky vyhledávání
- 1.0472513 - FZÚ 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vaniš, Jan - Zelinka, Jiří - Zeipl, Radek - Jelínek, Miroslav - Kocourek, Tomáš - Remsa, Jan - Navrátil, Jiří
Scanning thermal microscopy of thermoelectric pulsed laser deposited nanostructures.
NANOCON 2015: 7th International Conference on Nanomaterials - Research and Application, Conference Proceedings. Ostrava: TANGER, spol. s r.o., 2015, s. 655-659. ISBN 978-80-87294-63-5.
[NANOCON 2015. International Conference /7./. Brno (CZ), 14.10.2015-16.10.2015]
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389013
Klíčová slova: Scanning thermal microscopy * figure of merit * thermoeletric materials
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0269816 - 2.0470064 - FZÚ 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vaniš, Jan - Zelinka, Jiří - Zeipl, Radek - Jelínek, Miroslav - Kocourek, Tomáš - Remsa, Jan - Navrátil, Jiří
Scanning thermal microscopy of thermoelectric nanostructures.
Journal of Electronic Materials. Roč. 45, č. 3 (2016), s. 1734-1739. ISSN 0361-5235. E-ISSN 1543-186X
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA15-05864S; GA ČR(CZ) GA13-33056S
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389013
Klíčová slova: thermoelectric layer * scanning thermal microscopy * pulsed laser deposition * laser deposition * secondary ion mass spectrometry
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus; CA - Anorganická chemie (UMCH-V)
Impakt faktor: 1.579, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267800 - 3.0452133 - FZÚ 2016 DE eng A - Abstrakt
Vaniš, Jan - Zelinka, Jiří - Zeipl, Radek - Jelínek, Miroslav - Kocourek, Tomáš - Remsa, Jan - Navrátil, Jiří
Scanning thermal microscopy of thermoelectric nanostructures.
ICT & ECT2015. Book of Abstracts. Dresden: Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe, 2015 - (Grin, J.). PB034
[International Conference on Thermoelectrics (ICT 2015) /34./ and European Conference on Thermoelectrics (ECT 2015) /13./. 28.06.2015-02.07.2015, Dresden]
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389013
Klíčová slova: thermoelectric layer * scanning thermal microscopy * PLD * laser deposition * SIMS
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253148 - 4.0044322 - ÚFM 2007 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Ohlídal, I. - Buršík, Jiří
Applications of scanning thermal microscopy in the analysis of the geometry of patterned structures.
[Použití rastrovací termální mikroskopie při analýzách geometrie struktury mikročipu.]
Surface and Interface Analysis. Roč. 38, č. 4 (2006), s. 383-387. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA MPO(CZ) FT-TA/094
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: scanning thermal microscopy * tip artefacts * neural networks
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.427, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0137130 - 5.0024665 - ÚFM 2006 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Ohlídal, I. - Buršík, Jiří
Scanning thermal microscopy - theory and applications.
[Rastrovací termální mikroskopie: teorie a aplikace.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 50, 11-12 (2005), s. 327-329. ISSN 0447-6441
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: scanning thermal microscopy * scanning probe microscopy
Kód oboru RIV: BJ - Termodynamika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0115170