Výsledky vyhledávání
Váš dotaz:
Předmět (klíč.slova) = "scanning low energy electron microscopy SLEEM"
- 1.0575427 - ÚPT 2024 RIV GB eng A - Abstrakt
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Daniel, Benjamin - Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška
Study of Graphene by Scanning Low Energy Electron Microscopy and Time-of-Flight Spectroscopy.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 29, S1 (2023), s. 1861-1862. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2023. 23.07.2023-27.07.2023, Minneapolis]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * time-of-flight spectroscopy * graphene
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
https://academic.oup.com/mam/article/29/Supplement_1/1861/7229038
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0345212 - 2.0544223 - ÚPT 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Ma, Haili - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Yin, X. - Sun, F. - Piňos, Jakub - Vaškovicová, Naděžda - Průcha, Lukáš - Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Chen, D.
Imaging ferroelectric nanodomains in strained BiFeO3 nanoscale films using scanning low-energy electron microscopy: Implications for low-power devices.
ACS Applied Nano Materials. Roč. 4, č. 4 (2021), s. 3725-3733. ISSN 2574-0970
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) * BiFeO3 nanoscale films * ferroelectric nanodomains * low-loss backscattered electrons * multiferroic
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 6.140, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsanm.1c00204
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0321265 - 3.0386107 - ÚPT 2013 RIV SK eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Sergeev, E. - Knápek, A. - Mikmeková, Šárka - Grmela, L. - Klampár, M.
Material characterization of the epoxy-coated cold-field-emission cathodes.
Physics of materials 2012. Proceedings of the scientific conference. Košice: Technical University of Košice, 2012 - (Tóthová, J.; Lisý, V.), s. 109-112. ISBN 978-80-553-1175-3.
[Physics of Materials 2012. Košice (SK), 17.10.2012-19.10.2012]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: composite cold field-emission cathode * scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) * dielectric relaxation spectroscopy (DRS)
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215510 - 4.0367893 - ÚPT 2012 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Man, O. - Pantělejev, L. - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Kouřil, M.
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy.
Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465). Zurich: Trans Tech Publications, 2011 - (Šandera, P.), s. 338-341. ISBN 978-3-03785-006-0. ISSN 1662-9795.
[MSMF-6: Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI. Brno (CZ), 28.06.2010-30.06.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902; GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * contrast of crystal orientation * microscopic strain
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202409