Výsledky vyhledávání
- 1.0449326 - FZÚ 2016 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Šimek, Daniel - Kužel, R. - Rafaja, D.
Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films.
Journal of Applied Crystallography. Roč. 39, č. 4 (2006), s. 487-501. ISSN 0021-8898. E-ISSN 1600-5767
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: texture * stress * X-ray diffraction * reciprocal space mapping
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.495, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0250882 - 2.0436000 - ÚFE 2015 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Lomov, A. A. - Punegov, V. I. - Nohavica, Dušan - Chuev, M.A. - Vasiliev, A.L. - Novikov, D. V.
High-resolution synchrotron diffraction study of porous buffer InP(001) layers.
Journal of Applied Crystallography. Roč. 47, č. 5 (2014), s. 1614-1625. ISSN 0021-8898. E-ISSN 1600-5767
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: porous layers * X-ray reciprocal space mapping * indium phosphide
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 3.984, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0239828Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup UFE 0436000.pdf 1 897.7 KB Jiná vyžádat - 3.0353131 - FZÚ 2011 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Ge, Y. - Heczko, Oleg - Hannula, S.-P. - Fähler, S.
Probing structure and microstructure of epitaxial Ni–Mn–Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements.
Acta Materialia. Roč. 58, č. 20 (2010), 6665-6671. ISSN 1359-6454. E-ISSN 1873-2453
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100913
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: reciprocal space mapping * thin film * Ni–Mn–Ga * martensite * magnetic shape memory
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.781, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192458