Výsledky vyhledávání
- 1.0368828 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Zemánek, Pavel
Multiple Probe Photonic Force Microscopy.
NANOCON 2011. 3rd International Conference. Ostrava: Tanger spol. s r. o, 2011, s. 682-687. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011. International Conference /3./. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT ED0017/01/01
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: photonic force microscopy * scanning probe microscopy * two-photon fluorescence * time-sharing traps
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0203061 - 2.0205688 - UPT-D 20030071 RIV RU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Ježek, Jan - Zemánek, Pavel
Optical tweezers and its use in local probe microscopy.
Trudy VII meždunarodnoj naučno-techničeskoj konferencii Optičeskije metody issledovanija potokov. Moskva: MEI, 2003 - (Dubniščev, J.; Rinkevičjus, B.), s. 28 - 31. ISBN 5-7046-0959-7.
[OMFI 2003. Moskva (RU), 24.06.2003-27.06.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065203
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: optical tweezers * optical trap * photonic force microscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101301 - 3.0048847 - ÚPT 2007 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Liška, M. - Zemánek, Pavel
Measurement of surface details with nanometer resolution using several optically held probes.
[Měření povrchových detailů s nanometrovým rozlišením pomocí několika opticky vázaných sond.]
Proceedings of SPIE (Vol. 6180) Photonics, Devices, and Systems III. Bellingham: SPIE, 2006, 61802A:1-6. ISBN 0-8194-6236-5. ISSN 0277-786X.
[Photonics, Devices, and Systems III. Praha (CZ), 08.06.2005-11.06.2005]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065203
Grant ostatní: EC 6FP(XE) ATOM3D No. 508952
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning probe microscopy * photonic force microscopy * optical tweezers * surface profile measurements
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139376