Výsledky vyhledávání
- 1.0502158 - FZÚ 2019 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Muntwiler, M. - Zhang, J. - Stania, R. - Matsui, F. - Oberta, Peter - Flechsig, U. - Patthey, L. - Quitmann, C. - Glatzel, T. - Widmer, R. - Meyer, E. - Jung, T.A. - Aebi, P. - Fasel, R. - Greber, T.
Surface science at the PEARL beamline of the Swiss Light Source.
Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 24, č. 1 (2017), s. 354-366. ISSN 0909-0495. E-ISSN 1600-5775
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: X-ray photoelectron spectroscopy * X-ray photoelectron diffraction * scanning tunneling microscopy
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 3.232, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0294114 - 2.0463238 - FZÚ 2017 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Bartoš, Igor - Brault, J. - De Mierry, P. - Paskova, T. - Jiříček, Petr
GaN quantum dot polarity determination by X-ray photoelectron diffraction.
Applied Surface Science. Roč. 389, Dec (2016), s. 1156-1160. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA ČR GA15-01687S; GA MŠMT LM2015088
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: GaN * semipolar GaN * quantum dots * X-ray photoelectron diffraction * surface polarity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.387, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0262652 - 3.0456585 - FZÚ 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Jiříček, Petr - Paskova, T. - Bartoš, Igor
Polarity of GaN with polar {0001} and semipolar {1011}, {2021}, {1122}, orientations by x-ray photoelectron diffraction.
Journal of Materials Research. Roč. 30, č. 19 (2015), 2881-2892. ISSN 0884-2914. E-ISSN 2044-5326
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101201
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: GaN, * semipolar surfaces, * photoelectron diffraction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.579, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0257108 - 4.0451744 - FZÚ 2016 ES eng A - Abstrakt
Romanyuk, Olexandr - Fernández-Garrido, S. - Jiříček, Petr - Bartoš, Igor - Geelhaar, L. - Brandt, O. - Paskova, T.
Polarity of polar and semipolar GaN by X-ray photoelectron diffraction.
European Conference on Surface Science (ECOSS31). Book of Abstracts. Barcelona: ECOSS31, 2015. s. 549.
[European Conference on Surface Science (ECOSS31). 31.08.2015-04.09.2015, Barcelona]
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101201
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: GaN * semipolar surfaces * photoelectron diffraction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0252849 - 5.0448017 - FZÚ 2016 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Fernández-Garrido, S. - Jiříček, Petr - Bartoš, Igor - Geelhaar, L. - Brandt, O. - Paskova, T.
Non-destructive assessment of the polarity of GaN nanowire ensembles using low-energy electron diffraction and x-ray photoelectron diffraction.
Applied Physics Letters. Roč. 106, č. 2 (2015), "021602-1"-"021602-4". ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101201
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: GaN nanowires * X-ray photoelectron diffraction * LEED I-V * GaN polarity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.142, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0249763 - 6.0432953 - FZÚ 2015 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Bartoš, Igor - Romanyuk, Olexandr
Polarity of wurtzite crystals by photoelectron diffraction.
Applied Surface Science. Roč. 315, OCT (2014), s. 506-509. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101201
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: wurtzite semiconductors * surface polarity * X-ray photoelectron diffraction * XPD
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.711, rok: 2014
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S016943321400066X
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0237249 - 7.0425133 - FZÚ 2014 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Romanyuk, Olexandr - Jiříček, Petr - Mutombo, Pingo - Paskova, T. - Bartoš, Igor
Surface analysis of free-standing GaN substrates with polar, nonpolar,and semipolar crystal orientations.
Gallium Nitride Materials and Devices VIII. Bellingham: SPIE, 2013 - (Chyi, J.; Nanishi, Y.; Morkoc, H.; Piprek, J.; Yoon, E.; Fujioka, H.), "862521-1"-"862521-9". Proceedings of SPIE, 8625. ISBN 978-0-8194-9394-1. ISSN 0277-786X.
[SPIE Symposium on Gallium Nitride Materials and Devices /8./. San Francisco (US), 04.02.2013-07.02.2013]
Grant ostatní: AV ČR(CZ) M100101201
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: surface structure * non-polar GaN * semipolar GaN * LEED * photoelectron diffraction * crystal polarity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://dx.doi.org/10.1117/12.2006400
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0231058 - 8.0396607 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Jiříček, Petr - Paskova, T. - Bieloshapka, Igor - Bartoš, Igor
GaN polarity determination by photoelectron diffraction.
Applied Physics Letters. Roč. 103, č. 9 (2013), "091601-1"-"091601-4". ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP108/12/G108
Grant ostatní: AV ČR(CZ) M100101201
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: GaN * photoelectron diffraction * wurtzite * surface polarity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.515, rok: 2013
http://apl.aip.org/resource/1/applab/v103/i9/p091601_s1?isAuthorized=no
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0224351 - 9.0390686 - FZÚ 2013 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Jiříček, Petr - Paskova, T.
Atomic and electronic structure of N-terminated GaN(0001) (1 × 1) surface.
Journal of Physics: Conference Series. Roč. 398, č. 1 (2012), s. 1-6. ISSN 1742-6588. E-ISSN 1742-6596.
[17th International School on Condensed Matter Pjysics (ISCMP): Open Problems in Condesed Matter Physics, BIiomedical Physics and their Applications. Varna, 02.09.2012-07..09.2012]
Grant CEP: GA ČR GPP204/10/P028
Grant ostatní: AV ČR(CZ) M100101201
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: clean surfaces * GaN * photoelectron diffraction * REELS * ab initio DFT * optical response
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
http://iopscience.iop.org/1742-6596/398/1/012013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219559 - 10.0390483 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Bartoš, Igor - Romanyuk, Olexandr
Layer-resolved photoelectron diffraction from Si(001) and GaAs(001).
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 185, č. 11 (2012), s. 512-517. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
Grant CEP: GA ČR GAP204/10/0035
Grant ostatní: AV ČR(CZ) M100101201; AV ČR(CZ) AP0701; Murata Science Foundation(JP) 00295
Program: Akademická prémie - Praemium Academiae
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: photoelectron diffraction * GaAs(001) * Si(001) * semiconductor surfaces * electron attenuation length
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.706, rok: 2012
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0368204812001326
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0219337