Výsledky vyhledávání
- 1.0205641 - UPT-D 20030023 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Mika, Filip - Ryšávka, J. - Lopour, F. - Zadražil, M. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Computer Controlled Low Energy SEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 9, Sup. 3 (2003), s. 116 - 117. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[MC 2003. Dresden, 07.09.2003-12.09.2003]
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065017
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: low energy SEM * scanning electron microscope * non-conductive specimens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.648, rok: 2003
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101254 - 2.0205566 - UPT-D 20020116 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Autrata, Rudolf - Jirák, Josef
Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie.
[Environmental scanning electron microscope.]
Medoty analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002 - (Frank, L.; Král, J.), s. 459 - 484. ISBN 80-200-0594-3
Grant CEP: GA AV ČR IBS2065107
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: collision ions * non-conductive specimens * ESEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101179 - 3.0205490 - UPT-D 20020040 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Romanovský, Vladimír - El-Gomati, M.
Electrostatic mini SLEEM for surface studies.
Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society. Brno: CSMS, 2002 - (Frank, L.), s. 95 - 96. ISBN 80-238-8749-1.
[CSEM. Vranovská Ves (CZ), 08.02.2002-09.02.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: low-energy electrons * charging effect * non-conductive specimens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101103