Výsledky vyhledávání

0467527 - ÚPT 2017 PL eng A - Abstrakt
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich - Číp, Ondřej - Valtr, M. - Klapetek, P.
Coordinate interferometric measuring system for positioning of a sample in electron-beam writer.
NanoScale 2016. 11th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 7th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. Wroclaw: Wroclaw University of Technology, 2016.
[NanoScale 2016. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /11./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /7./. 09.03.2016-11.03.2016, Wroclaw]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SPM * nanometrology * nanoscale * nanopositioning interferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0265623

0444439 - ÚPT 2016 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Klapetek, P. - Valtr, M. - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Oulehla, Jindřich - Šerý, Mojmír
Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy.
Sensors. Roč. 14, č. 1 (2014), s. 877-886. E-ISSN 1424-8220
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * nanopositioning interferometry * AFM * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 2.245, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246959

0422037 - ÚPT 2014 FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Oulehla, Jindřich
Short-range six-axis interferometer controlled positioning for local probe microscopy.
NanoScale 2013. 10th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 6th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and methods.. Paris: Nanometrology Group, 2013, s. 117.
[NanoScale 2013. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /10./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /6./. Paris (FR), 25.04.2013-26.04.2013]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * nanopositioning interferometry * AFM * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228290

0399809 - ÚPT 2014 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Číp, Ondřej - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich
Interferometric system with tracking refractometry capability in the measuring axis.
Measurement Science and Technology. Roč. 24, č. 6 (2013), 067001:1-6. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820; GA TA ČR TE01020233; GA TA ČR TA02010711; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: refractometry * nanopositioning * interferometry * nanometrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.352, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227030

0397860 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klepetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Holá, Miroslava - Šerý, Mojmír
Interferometric coordinates measurement sytem for local probe microscopy nanometrology.
NANOCON 2013, 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE. Ostrava: TANGER Ltd, 2014. ISBN 978-80-87294-47-5.
[NANOCON 2013. International Conference /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MPO FR-TI2/705; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Nanometrology * Interferometry * Traceability * Local probe microscopy * Nanopositioning
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225471