Výsledky vyhledávání
- 1.0467527 - ÚPT 2017 PL eng A - Abstrakt
Lazar, Josef - Holá, Miroslava - Hrabina, Jan - Oulehla, Jindřich - Číp, Ondřej - Valtr, M. - Klapetek, P.
Coordinate interferometric measuring system for positioning of a sample in electron-beam writer.
NanoScale 2016. 11th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 7th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. Wroclaw: Wroclaw University of Technology, 2016.
[NanoScale 2016. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /11./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /7./. 09.03.2016-11.03.2016, Wroclaw]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: SPM * nanometrology * nanoscale * nanopositioning interferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0265623 - 2.0444439 - ÚPT 2016 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Klapetek, P. - Valtr, M. - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Oulehla, Jindřich - Šerý, Mojmír
Short-Range Six-Axis Interferometer Controlled Positioning for Scanning Probe Microscopy.
Sensors. Roč. 14, č. 1 (2014), s. 877-886. E-ISSN 1424-8220
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * nanopositioning interferometry * AFM * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 2.245, rok: 2014
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0246959 - 3.0431959 - ÚPT 2015 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klapetek, P. - Valtr, M. - Číp, Ondřej - Oulehla, Jindřich - Čížek, Martin - Holá, Miroslava - Šerý, Mojmír
6-axis interferometric coordinates measurement system for nanometrology.
Photonic Instrumentation Engineering (Proceedings of Spie 8992). Bellingham: SPIE, 2014, 89920W:1-8. ISSN 0277-786X.
[Photonic Instrumentation Engineering. San Francisco (US), 02.02.2014-05.02.2014]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * AFM * nanoscale * nanopositioning interferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0236468 - 4.0422037 - ÚPT 2014 FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Oulehla, Jindřich
Short-range six-axis interferometer controlled positioning for local probe microscopy.
NanoScale 2013. 10th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 6th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and methods.. Paris: Nanometrology Group, 2013, s. 117.
[NanoScale 2013. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /10./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /6./. Paris (FR), 25.04.2013-26.04.2013]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: nanometrology * nanopositioning interferometry * AFM * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228290 - 5.0368141 - ÚPT 2012 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Klapetek, P.
Nanometrology Interferometric System for Local Probe Microscopy.
Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement. Aachen: Shaker Verlag, 2011, s. 17-20. ISBN 978-3-8440-0058-0.
[IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement /20./. Linz (AT), 16.05.2011-18.05.2011]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GPP102/11/P820
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale * iodine cells * spectroscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0202571 - 6.0366031 - ÚPT 2012 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej
Multidimensional interferometric tool for the local probe microscopy nanometrology.
Measurement Science and Technology. Roč. 22, č. 9 (2011), 094030:1-8. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * nanometrology * nanopositioning interferometry * nanoscale
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.494, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0201133 - 7.0330674 - ÚPT 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning.
Measurement Science and Technology. Roč. 20, č. 8 (2009), 084007: 1-6. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA AV ČR IAA200650504; GA MŠMT 2C06012; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/07/1179
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: interferometry * local probe microscopy * nanometrology * nanoscale * surface probe microscopy (SPM) * atomic force microscopy (AFM) * nanopositioning interferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.317, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0176405