Výsledky vyhledávání
- 1.0350945 - ÚTAM 2011 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Minster, Jiří - Bláhová, O. - Lukeš, J. - Němeček, J.
Time-dependent mechanical characteristics measured through the use of a microindentation technique.
Mechanics of Time-Dependent Materials. Roč. 14, č. 3 (2010), s. 243-251. ISSN 1385-2000. E-ISSN 1573-2738
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IAA200710801
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20710524
Klíčová slova: materials testing * microindentation * viscoelastic compliance * relaxation modulus
Kód oboru RIV: JI - Kompozitní materiály
Impakt faktor: 0.955, rok: 2010
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0190804Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0350945_2010_Minster_Blahova_Lukes_Nemecek_Time-dependent_mechanical_characteristic_measured_through_the_use_of_a_microindentation_technique.pdf 0 664.7 KB Autorský postprint povolen - 2.0324252 - ÚFM 2009 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Boccaccini, D. N. - Kamseu, E. - Volkov-Husović, T. D. - Cannio, M. - Romagnoli, M. - Veronesi, P. - Dlouhý, Ivo - Boccaccini, A. R. - Leonelli, C.
Prediction of service life of cordierite-mullite refractory materials by non-destructive methods.
[Predikce životnosti žáropevných materiálu na bázi cordieritu a mulitu pomocí nedestruktivních metod.]
Multiscale and Functionally Graded Materials. Melwille, NY: American Institute of Physics, 2008, s. 449-454. AIP Conference Proceedings, 973. ISBN 978-0-7354-0492-2. ISSN 0094-243X.
[International Conference on Multiscale and Functionally Graded Materials /9./. Oahu Island, Hawaii (US), 15.10.2006-18.10.2006]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA106/06/0724
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: refractories * thermal analysis * materials testing * fracture mechanics * cracks * ultrasonic velocity * image processing
Kód oboru RIV: JH - Keramika, žáruvzdorné materiály a skla
http://link.aip.org/link/?APCPCS/973/449/1
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0171999 - 3.0323635 - ÚTAM 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Krastev, R.K. - Zachariev, G. - Hristova, J. - Minster, Jiří
Creep-rupture strength prediction of an epoxy composite under tension.
[Předpověď creepové pevnosti epoxidového kompozitu při tahovém zatížení.]
Mechanics of Time-Dependent Materials. Roč. 13, č. 2 (2009), s. 207-214. ISSN 1385-2000. E-ISSN 1573-2738
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20710524
Klíčová slova: materials testing * creep * strength prediction
Kód oboru RIV: JI - Kompozitní materiály
Impakt faktor: 1.051, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0171538 - 4.0302306 - URE-Y 920066 CS1 cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kacerovský, Pavel
Difraktometrie na štěpných plochách laserových monokrystalických heterostruktur.
Olomouc: Universita Palackého, 1992. ISBN 80-7067-103-3. In: Reálná struktura látek., s. 229-234
[Reálná struktura látek. Vojtěchov na Moravě (CS), 18.05.1992-22.05.1992]
Výzkumný záměr: Ústavní úkol č. 0130
Klíčová slova: test equipment * materials testing * electrical faults * crystal defects
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112770 - 5.0302246 - URE-Y 920006 CH eng J - Článek v odborném periodiku
Kacerovský, Pavel - Žďánský, Karel
Testing of GaAs:Si layers and substrates by the point-contact voltage.
Crystal Properties and Preparation. 32-34, - (1991), s. 251-255. ISSN 0252-1067.
[International Conference on Epitaxial Crystal Growth /1./. Budapest, 01.04.1990-07.04.1990]
Klíčová slova: materials testing
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112712 - 6.0302245 - URE-Y 920005 CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Kacerovský, Pavel - Žďánský, Karel
Testing of GaAs:Si layers and substrates by the point-contact voltage.
Zürich: Trans.Tech.Publ., 1991. ISBN 0-87849-616-5. In: Epitaxial crystal growth. Proceedings of the 1st international conference on epitaxial crystal growth. - (Lendvay, E.), s. 251-255
[International Conference on Epitaxial Crystal Growth /1./. Budapest (HU), 01.04.1990-07.04.1990]
Klíčová slova: materials testing
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112711 - 7.0042687 - ÚFE 2007 CZ eng A - Abstrakt
Vacková, S. - Žďánský, Karel - Gorodynskyy, Vladyslav - Majlingová, O. - Oswald, Jiří - Gorley, P. N. - Vacek, R.
Testing of semiconductor materials suitable for radiation detectors by non-traditional methods.
[Testování polovodičových materiálů vhodných pro radiační detektory netradičními metodami.]
CHISA 2006. Summaries 5: Systems and Technology. Praha: Process Engineering Publisher, 2006. s. 1852--. ISBN 80-86059-45-6.
[International Congress of Chemical and Process Engineering CHISA 2006/17th./. 27.08.2006-31.08.2006, Praha]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KAN400670651
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: materials testing * deep levels * electron-hole recombination
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0135861 - 8.0029684 - ÚFE 2006 RU rus A - Abstrakt
Pašaev, E. M. - Imamov, R. M. - Mokerov, V. G. - Kacerovský, Pavel - Subbotin, I. A. - Tomilina, G. Ju. - Fjodorov, Ju. V.
Diagnostika rosta geterostruktur InxGa1-xAs/InyAl1-yAs na podložkach InP.
[Growth diagnostic of InxGa1-xAs/InyAl1-yAs heterostructures on InP substrates.]
Tezisy dokladov. XI Nacional'naja konferencija po rostu kristallov. NKRK -2004. Moskva: Institut kristallografii imeni A. V. Šubnikova Rossijskoj Akademii Nauk, 2004. s. 372.
[Nacional'naja konferencija po rostu kristallov NKRK -2004 /11./. 14.12.2004-17.12.2004, Moskva]
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) KSK1010104
Klíčová slova: molecular beam epitaxial growth * X-ray diffraction * materials testing
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0119493