Výsledky vyhledávání
- 1.0333617 - ÚPT 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo
Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes.
Journal of Microscopy. Roč. 236, č. 3 (2009), s. 203-210. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Grant CEP: GA MŠMT OE08012; GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: detection of electrons * magnetic lenses * secondary electrons * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.612, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178559 - 2.0205500 - UPT-D 20020050 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lencová, Bohumila
Is this BEM useful for the computation of magnetic lenses?
Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 15 - 16. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: boundary element method * magnetic lenses
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101113