Výsledky vyhledávání
- 1.0494372 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš - Kolařík, V. - Oral, Martin
Electron optical properties of a new low-energy scanning electron microscope with beam separator.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 64-65. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * beam separation * aberrations
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287628 - 2.0494360 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Daniel, Benjamin - Radlička, Tomáš - Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Very low energy electron transmission spectromicroscopy.
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. Brno: Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018, s. 14-15. ISBN 978-80-87441-23-7.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 04.06.2018-08.06.2018]
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * electron microscopy * time of flight * electron energy lost spectroscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0287590 - 3.0437839 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Eliška - Frank, Luděk
Examination of Graphene with Very Slow Electrons.
NANOCON 2014. 6th International conference proceedings. Ostrava: TANGER, 2014. ISBN 978-80-87294-55-0.
[NANOCON 2014. International Conference /6./. Brno (CZ), 05.11.2014-07.11.2014]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: graphene * slow electrons * very low energy scanning electron microscopy * ultralow energy STEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0241324 - 4.0386397 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Imaging the local density of electronic states by very low energy electron reflectivity.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 57-58. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: very low energy scanning electron microscopy * reflectivity of slow electrons * crystalography orientation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215696 - 5.0386393 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Characterization of industrial materials by slow and very slow electrons.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), s. 45-46. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * complex steels * microstructure of materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215702 - 6.0352430 - ÚPT 2011 SG eng A - Abstrakt
Frank, Luděk - Radlička, Tomáš - Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Very low energy scanning electron microscopy.
Eighth International Conference on Charged Particle Optics CPO-8. Singapore: National University of Singapore, 2010. s. 98-99.
[CPO /8./ International Conference on Charged Particle Optics. 12.07.2010-16.07.2010, Singapore]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: very low energy scanning electron microscopy * cathode lens * BSE detector
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191937 - 7.0340747 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Hanzlíková, Renáta - Frank, Luděk
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films.
Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 265-270. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * thin foils * transmission of very slow electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/265.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183928 - 8.0340743 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Mapping the Local Density of States by Very-Low-Energy Scanning Electron Microscope.
Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 214-218. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: density of states * scanning low energy electron microscopy * aluminum * very-low-energy scanning electron microscopy * electron band structure
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/214.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183925 - 9.0043765 - ÚPT 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Zobačová, Jitka - Zobač, Martin - Oral, Martin - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Corrections of Magnification and Focusing in a Cathode Lens-Equipped Scanning Electron Microscope.
[Korekce zvětšení a zaostření v rastrovacím elektronovém mikroskopu s katodovou čočkou.]
Scanning. Roč. 28, č. 3 (2006), s. 155-163. ISSN 0161-0457. E-ISSN 1932-8745
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065301
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low-energy scanning electron microscopy (SEM) * cathode lens * critical dimension measurement in SEM * automatic corrections
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.462, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0136677