Výsledky vyhledávání

Nalezeno záznamů: 12  
Váš dotaz: Předmět (klíč.slova) = "local probe microscopy"
    1.
    0426199 - ÚPT 2015 ME eng A - Abstrakt
    Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Oulehla, Jindřich
    Short-range six-axis interferometer controlled positioning for local probe microscopy.
    21th annual International Conference on Advanced Laser Technologies ALT´13. Book of Abstracts. Budva: University of Montenegro, 2013.
    [ALT´13. Annual International Conference on Advanced Laser Technologies /21./. 16.09.2013-20.09.2013, Budva]
    Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SIX-AXIS interferometer * local probe microscopy
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0235668
     
     
    2.
    0422393 - ÚPT 2014 ME eng A - Abstrakt
    Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Buchta, Zdeněk - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Oulehla, Jindřich
    Short-range six-axis interferometer controlled positioning for local probe microscopy.
    21th annual International Conference on Advanced Laser Technologies ALT´13. Book of Abstracts. Budva: University of Montenegro, 2013.
    [ALT´13. Annual International Conference on Advanced Laser Technologies /21./. 16.09.2013-20.09.2013, Budva]
    Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SIX-AXIS interferometer * local probe microscopy
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228539
     
     
    3.
    0397860 - ÚPT 2019 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klepetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Holá, Miroslava - Šerý, Mojmír
    Interferometric coordinates measurement sytem for local probe microscopy nanometrology.
    NANOCON 2013, 5TH INTERNATIONAL CONFERENCE. Ostrava: TANGER Ltd, 2014. ISBN 978-80-87294-47-5.
    [NANOCON 2013. International Conference /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
    Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MPO FR-TI2/705; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Nanometrology * Interferometry * Traceability * Local probe microscopy * Nanopositioning
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225471
     
     
    4.
    0353170 - ÚPT 2011 CZ eng A - Abstrakt
    Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
    Laser source for multidimensional interferometry.
    NanoScale 2010. Brno: CMI, 2010. M04.
    [NanoScale 2010 - 9th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 5th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. 27.10.2010-29.10.2010, Brno]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: local probe microscopy techniques * AFM microscopy
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0192488
     
     
    5.
    0352199 - ÚPT 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Klapetek, P.
    Interferometer controlled positioning for nanometrology.
    2nd International Conference NANOCON 2010. Ostrava: Tanger s.r.o, 2010, s. 287-291. ISBN 978-80-87294-19-2.
    [NANOCON 2010. International Conference /2./. Olomouc (CZ), 12.10.2010-14.10.2010]
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA ČR GA102/09/1276
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: nanometrology * interferometry * local probe microscopy * nanopositioning
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191768
     
     
    6.
    0352186 - ÚPT 2011 RIV BG eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Klapetek, P.
    Multiaxis interferometric system for positioning in nanometrology.
    Proceedings of the 9th WSEAS International Conference on Microelectronics, Nanoelectronics, Optoelectronic. Sofia: WSEAS EUROPMENT Press, 2010, s. 92-95. ISBN 978-954-92600-3-8. ISSN 1790-5117.
    [WSEAS International Conference on Microelectronics, Nanoelectronics, Optoelectronic /9./. Catania (IT), 29.05.2010-31.10.2010]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: nanometrology * interferometry * traceability * local probe microscopy * nanopositioning
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191759
     
     
    7.
    0351325 - ÚPT 2011 RIV GR eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír
    Laser interferometric measuring system for positioning in nanometrology.
    WSEAS Transactions on Circuits and Systems. Roč. 9, č. 10 (2010), s. 660-669. ISSN 1109-2734
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR KAN311610701; GA MPO FR-TI1/241; GA ČR GA102/09/1276
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: Interferometry * local probe microscopy * nanometrology * nanopositioning * traceability
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191103
     
     
    8.
    0330674 - ÚPT 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
    Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning.
    Measurement Science and Technology. Roč. 20, č. 8 (2009), 084007: 1-6. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
    Grant CEP: GA AV ČR IAA200650504; GA MŠMT 2C06012; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/07/1179
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: interferometry * local probe microscopy * nanometrology * nanoscale * surface probe microscopy (SPM) * atomic force microscopy (AFM) * nanopositioning interferometry
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 1.317, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0176405
     
     
    9.
    0325114 - ÚPT 2009 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
    Interferometric Displacement Measurement for Local Probe Microscopy.
    [Interferometrické měření polohy pro mikroskopii s lokální sondou.]
    tm-Technisches Messen. Roč. 76, č. 5 (2009), s. 253-258. ISSN 0171-8096
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA AV ČR IAA200650504; GA AV ČR KAN311610701; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/07/1179; GA MŠMT 2C06012
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: Interferometry * local probe microscopy * nanometrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 0.321, rok: 2009
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0172639
     
     
    10.
    0316647 - ÚPT 2009 IT eng A - Abstrakt
    Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
    Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning.
    [Mikroskopie s lokální sondou s interferometrickým měřením polohy vzorku.]
    NanoScale 2008 - 8th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 4th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. Torino: Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, 2008. s. 20. ISBN N.
    [NanoScale 2008. 22.09.2008-23.09.2008, Torino]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: interferometry * local probe microscopy * nanometrology
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0166505
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše